X射線熒光分析法菲希爾x射線測厚儀

X射線熒光分析法菲希爾x射線測厚儀

菲希爾x射線測厚儀能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。菲希爾測厚儀

菲希爾x射線測厚儀EDXRF作為一種常用測試方法，有著其突出的優(yōu)勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素，并且工作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數秒鐘內，很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制備，即可進行快速測量。利用該方法，可以同時測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如此，EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害物質。

此外，X射線熒光分析是一種清潔的測量方法，測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精巧的設計，X射線不會對操作人員和環(huán)境構成任何威脅：菲希爾X射線儀器是絕對安全可靠的。菲希爾測厚儀

X射線熒光分析法原理菲希爾測厚儀

菲希爾x射線測厚儀X射線熒光分析基于以下物理現象：樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補，在填補的過程中，會產生每個元素*的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。

DELTASCOPE FMP10或菲希爾FMP30可測量鐵或鋼上非鐵磁性金屬涂層的厚度，如鉻、銅、鋅、油漆、涂料、搪瓷和塑料涂層。

DELTASCOPE FMP10測厚儀展示了新菲舍爾FMP系列手持式儀器的測量技術。該儀器由堅固耐用的材料制成，具有簡單友好的用戶界面，可以與可更換的探頭一起使用，以滿足不同用戶的所有測量要求。他們可以計算和顯示重要的值和數據。您的測量結果可以和校準信息一起以應用程序的形式存儲在儀器中，保證您每天都能方便、快捷、準確、可靠地使用。