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鍍錫層測厚儀，菲希爾X射線測厚儀，F(xiàn)ischer代理，F(xiàn)ischerscope X-RAY，fischer熒光射線測厚儀

化銀層測厚儀菲希爾代理，菲希爾X射線測厚儀是一種基于X射線穿透原理的測厚儀器。它通過測量X射線穿透材料后強度衰減的程度，來計算材料的厚度。菲希爾X射線測厚儀具有...

Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀，XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測厚儀，先進的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層...

鍍銅層測厚儀，通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內(nèi)置高分辨率彩色攝像頭,簡化了對測量點進行對位的過程。

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菲希爾X射線鍍金層測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào) 整的多個準直器和基本濾片。比例接...

菲希爾X射線測厚儀Fischer，由于測量距離可以調(diào)節(jié)（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

菲希爾代理X射線測厚儀，F(xiàn)ischerscope X-ray XAN500，F(xiàn)ischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動使用并且應用廣泛的能...

菲希爾Fischer熒光射線測厚儀，一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。

菲希爾熒光射線測厚儀，由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHERSCOPE XULM-XYM，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。

Fischer測厚儀 熒光射線儀器，菲希爾全新 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 系列不僅更換了全新的設計，性能也顯著提升5...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍...

Fischerscope X-ray XAN500菲希爾，XAN 500不僅僅是一個用于大型零件的測量系統(tǒng)。借助可選的測量箱，只需幾個簡單的步驟即可將其轉換為臺...

菲希爾XAN310，可用于快速、無損地進行鍍層測厚及材料分析。滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準。作為一款手持式XRF分析儀，常適合在生...

菲希爾XAN250 X熒光射線測厚儀，高性能X射線熒光測量儀，配有非常*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

Fischerscope X-RAY XAN220，XRAY測厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，...

Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀，通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍...

菲希爾Fischerscope X-RAY XDL230，X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它非常適用于無...