MINITEST720測(cè)厚儀

EPK minitest720涂層測(cè)厚儀采用SIDSP技術(shù)提升了測(cè)量的精確性，zui高精度可達(dá)±（1μm+0.75%讀值），EPK minitest720涂層測(cè)厚儀zui大測(cè)量范圍為15mm,可自由選擇F/N/FN探頭。

EPK minitest720涂層測(cè)厚儀-優(yōu)點(diǎn)：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件