菲希爾X射線測(cè)厚儀\Fischer代理|廠家

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)FISCHERSCOPE X-RAY可用于測(cè)量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進(jìn)行電解溶液含量成份分析，帶有國(guó)家環(huán)保局豁免證書(shū)，無(wú)放射源設(shè)計(jì)，安全環(huán)保。主要用于微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測(cè)量、分析。

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測(cè)厚儀

1、測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件；

2、測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層；

3、測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；

4、全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板。