FISCHERSCOPE XDL210 X射線

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。zui多可同時(shí)測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

?測量薄鍍層，例如裝飾鉻

?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

?全自動測量，如測量印刷線路板

?分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實(shí)際應(yīng)用的需求。