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當(dāng)前位置：無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>Fischer菲希爾代理>>菲希爾x射線測(cè)厚儀>> 菲希爾X射線測(cè)厚儀、XAN215
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間：2024-08-27 11:40:21瀏覽次數(shù)：647次
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菲希爾、庫(kù)倫法、測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER X-RAY XDL210
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線測(cè)厚儀、XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，菲希爾X射線測(cè)厚儀,Fischer代理減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。 |
| 重復(fù)性 | 測(cè)量金元素時(shí)≤1‰，測(cè)量時(shí)間60秒 |
| 形式設(shè)計(jì) | 臺(tái)式儀器，測(cè)量門(mén)向上開(kāi)啟 |
| 測(cè)量方向 | 由下往上 |
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