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無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企...

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無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企...

射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業(yè)、航空...

半導體制冷冷水機滿足溫度控制需求的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85℃...

-85℃- 250℃納米半導體/元器件冷水機的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫...

-92℃~250℃TEC半導體冷水機的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-8...

半導體高低溫測試冷水機寬溫度定向升降的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-8...

高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85℃...

半導體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫...

半導體元件分析Chiller,元器件的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-8...

半導體與集成電路Chiller,無錫冠亞廠家的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫...

半導體芯片原材料Chiller,控流量壓力的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度...

半導體芯片元氣件控溫Chiller的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85...

半導體芯片元氣件測試Chiller,水冷型風冷型的典型應用：適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括...