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更新時(shí)間：2024-06-19 21:00:07
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賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series簡(jiǎn)介：
該檢測(cè)設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺(tái)和各個(gè)高精度驅(qū)動(dòng)軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動(dòng)裝卸Waffer，自動(dòng)檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動(dòng)檢測(cè)的設(shè)備。
賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn)：
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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