晶圓缺陷185LE-AL標(biāo)配鹵素?zé)舯?85/17LFA

晶圓缺陷185LE-AL標(biāo)配鹵素?zé)舯?85/17LFA

185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源

產(chǎn)品介紹

超高照度鹵素照明裝置185LE-AL

★鋁制燈罩重量1.2公斤

★可以選擇拱形把手和錘子把手

★手型大型面板等檢查

★基本性能與185LE標(biāo)準(zhǔn)型相同

SENA Superbeam185 LE-AL超高照度鹵素照明裝置

?通過孔徑的切換可以選擇最佳的照射直徑。?使用的非球面透鏡可以獲得照度比好的光。?輕型鋁制的安裝燈屋。

?最大照度：照射距離310mm、照射直徑55mmp為400.0001x以上（孔徑10小時）

·與SENA超級光束185LE相同。燈罩重量12kg

·發(fā)光部：直流點燈17V185W塞納原創(chuàng)燈

?照度調(diào)整：可以連續(xù)降低到最大照度的20%以下

日本sena lamp高照度目視檢查燈185LE-AL是適合晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等檢查

主要型號：

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185LE-AL是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)，觸摸屏制造等行業(yè)。

規(guī)格參數(shù)：

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。