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光學(xué)檢測(cè)YP-250I目視用霧度檢查裝置 現(xiàn)貨高強(qiáng)度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測(cè)最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

光學(xué)檢測(cè)目視用霧度檢查裝置YP-150I現(xiàn)貨高強(qiáng)度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測(cè)最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等...

光學(xué)檢測(cè)目視用YP-250ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨高強(qiáng)度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測(cè)最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

光學(xué)檢測(cè)目視用YP-150ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨高強(qiáng)度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測(cè)最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

晶圓檢測(cè)目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現(xiàn)貨一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓檢測(cè)目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓檢測(cè)目視用UIH-1H霧度檢查用照明裝置一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓光學(xué)檢測(cè)目視檢查燈UIH-1H照明燈現(xiàn)貨一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓 光學(xué)檢測(cè)目視檢查燈UIH-1C照明燈現(xiàn)貨一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓 光學(xué)檢測(cè)目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

光學(xué)檢測(cè)用目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3D一般來(lái)說(shuō)會(huì)使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進(jìn)行目視觀察，為了能觀測(cè)到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓缺陷目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3D當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：半...

現(xiàn)貨晶圓缺陷鹵素?zé)鬠IH-3D灰塵照射檢測(cè)燈當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制...

安德魯斯S-VAN光學(xué)檢測(cè)目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造...

光學(xué)檢測(cè)設(shè)備目視光源185HLE照明裝置現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行...

光學(xué)檢測(cè)185LE電源控制器185HLE-MK2現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏...