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調(diào)制器是一種改變原始電信號的幅度、頻率、相位等以使其更容易傳輸?shù)脑O(shè)備。例如，當(dāng)在兩個遠(yuǎn)距離點(diǎn)之間進(jìn)行無線通信時，很難將要發(fā)送的數(shù)據(jù)原樣作為信號進(jìn)行傳輸，因此需要使用調(diào)制器來調(diào)制信號。具體地，通過將待傳輸?shù)臄?shù)據(jù)置于射頻正弦波上來傳輸信號。調(diào)制方法有兩種：模擬調(diào)制和數(shù)字調(diào)制。區(qū)別在于所處理的信號是模擬信號還是數(shù)字信號，但基本原理是相同的。調(diào)制器的使用調(diào)制器是用于發(fā)送和接收電視和無線電廣播的設(shè)備。頻率根據(jù)信息類型（例如音頻或視頻）而變化，但有時頻率太低而無法作為信號傳輸。因此，電視和無線電廣播中使用調(diào)
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FIB-SEM（聚焦離子束掃描電子顯微鏡）是一種高分辨率三維成像和樣品處理技術(shù)。FIB代表聚焦離子束。使用高能離子束刮擦樣品表面，進(jìn)行詳細(xì)處理和觀察。離子束可以以非常小的光斑尺寸聚焦在樣品上，從而允許亞微米或納米級的處理和觀察。SEM代表掃描電子顯微鏡。采用高能電子束掃描樣品表面，以高分辨率觀察其表面形狀和結(jié)構(gòu)。SEM能夠生成詳細(xì)的三維圖像，與FIB結(jié)合時，可以描繪樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。FIB-SEM的應(yīng)用FIB-SEM由于其高分辨率和三維成像能力而被應(yīng)用于各種科學(xué)和工程領(lǐng)域。以下是如何使用FIB-S
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紅外熱成像設(shè)備是一種檢測被測物體發(fā)射的紅外輻射能并顯示物體表面溫度分布圖像的設(shè)備。它利用了紅外線的特性，物體溫度越高，發(fā)出的紅外線量就越多。紅外熱成像裝置具有以下特點(diǎn)：無需接觸物體即可遠(yuǎn)距離測量溫度測量大范圍內(nèi)的溫度分布，而不是物體上單點(diǎn)的溫度實(shí)時測量溫度紅外熱成像設(shè)備的應(yīng)用紅外熱成像設(shè)備可以實(shí)時可視化物體的表面溫度，因此被應(yīng)用于各個工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行溫度控制、監(jiān)測和檢查。在建筑領(lǐng)域，可以利用表面溫度的差異來檢測建筑物外墻瓷磚的隱形剝落。此外，太陽能電池板有時也被用來檢查太陽能電池板，因為當(dāng)出現(xiàn)異常時
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能源監(jiān)視器是一種通過將能源狀態(tài)反映在監(jiān)視器屏幕上來可視化能源狀態(tài)的產(chǎn)品。主要是指測量家庭、建筑物等用電量的設(shè)備。廣泛應(yīng)用于從工業(yè)到家用產(chǎn)品。典型的使用示例包括檢查混合動力汽車的電機(jī)和發(fā)動機(jī)使用狀態(tài)以及顯示具有太陽能發(fā)電系統(tǒng)的設(shè)施的電力使用狀態(tài)。能源監(jiān)測儀的使用方法通過使用能源監(jiān)視器，可以了解基礎(chǔ)設(shè)施能源的使用量，例如電力和天然氣。這使得可以了解一天中不同時間的使用情況和設(shè)備的使用情況，這對于節(jié)能非常有用。通過限制使用消耗大量電力的設(shè)備并引入節(jié)能設(shè)備，有助于降低運(yùn)行成本。此外，公司可能會嘗試減少二
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手持式示波器是一種適合戶外使用的小型示波器，可以使用電池供電。也稱為手鏡。示波器是一種將電子電路中信號電壓的變化顯示為時間序列波形數(shù)據(jù)的測量儀器。通過讀取波形和幅度的變化來測量信號的變化。由于它最初是用于實(shí)驗室和工廠生產(chǎn)線，因此需要高精度、高靈敏度、高速數(shù)據(jù)處理等高性能，導(dǎo)致外殼體積大、功耗高。另一方面，您還需要一臺示波器，可用于在安裝現(xiàn)場調(diào)整和維修電子設(shè)備。在這種情況下，設(shè)備必須體積小、重量輕且由電池供電，這樣即使性能稍差，也不需要商用電源。手持式示波器可以滿足這一要求。需要注意的是，便攜式示
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透射率計是一種測量特定波長的光透過玻璃、薄膜和濾色片等光學(xué)元件的透射率的設(shè)備。光學(xué)薄膜和彩色濾光片是具有透射、吸收和散射特定波長光作用的光學(xué)元件。還有一些光學(xué)元件，例如半導(dǎo)體光掩模，可以通過在玻璃上設(shè)置金屬膜來阻擋來自曝光裝置的光源的光，從而形成任意圖案。透射率測量儀器廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域，以確定這些光學(xué)元件是否具有性能和質(zhì)量。透光率測量儀的使用方法透射率測量儀器對于通過特定波長的光起作用的光學(xué)元件、通過阻擋特定波長的光起作用的光學(xué)元件以及在整個可見光范圍內(nèi)的光的透過率來說是重要的，用于測量材料的
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干涉儀是一種通過測量光照射到物體時發(fā)生的干涉現(xiàn)象來測量物體的表面形狀、折射率和尺寸的裝置。干涉現(xiàn)象是多個波疊加并相互增強(qiáng)或抵消時產(chǎn)生新的波形。當(dāng)波來自同一源或具有相同或相似的頻率時，這一點(diǎn)最為明顯。干涉儀有不同類型，例如邁克爾遜干涉儀、馬赫-曾德爾干涉儀和斐索干涉儀。干涉儀用途干涉儀的主要用途是對玻璃、金屬、陶瓷等平板等物體表面進(jìn)行非接觸式觀察。例如，玻璃產(chǎn)品包括智能手機(jī)蓋板玻璃、液晶玻璃、分色光學(xué)系統(tǒng)中使用的棱鏡和半導(dǎo)體掩?；?，金屬產(chǎn)品包括模具和鋁盤。此外，還可以測量電子設(shè)備用半導(dǎo)體器件中使
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曲線追蹤器是一種在顯示器上顯示當(dāng)電壓施加到半導(dǎo)體器件時電壓和電流之間關(guān)系的設(shè)備。它被稱為曲線跟蹤器，因為它跟蹤電壓-電流特性的圖形（曲線）并將其顯示在顯示屏上。在半導(dǎo)體器件中，施加的電壓和流動的電流之間的關(guān)系是非線性的，并且不像電阻器那樣成正比。因此，測量半導(dǎo)體和電子設(shè)備的電壓與電流特性需要改變電壓、測量電流值并將結(jié)果繪制在紙上等步驟。另一方面，曲線跟蹤器允許您直接在顯示屏上查看電壓-電流特性。曲線追蹤器的應(yīng)用曲線追蹤儀用于測量半導(dǎo)體器件開發(fā)過程中的特性、檢查制造部門的器件以及驗證使用半導(dǎo)體的電
