CHY-01膜厚分析儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

膜厚分析儀技術特征：

l 嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制;

l 測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差;

l 測試軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析，準確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶；

l 彩色大液晶顯示測試結(jié)果，及每次測量值、統(tǒng)計值；

l 配備微型打印機，快速打印每次測量結(jié)果及統(tǒng)計大小值、平均值；

l 支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能;

l 配備標準RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸；

l 配備專用自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，人為誤差小（選配）；

應用范圍：

適用于5mm范圍內(nèi)各種薄膜、薄片、隔膜、復合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量。分辨率達0.1um，廣泛應用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構(gòu)等單位。

符合標準：

該儀器符合多項國家和國際標準：GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011、ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411

技術參數(shù)：

規(guī)格名稱 技術參數(shù)

測量范圍 0-5mm(可根據(jù)需要定做合適夾具)

測量壓力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

測量精度 ±0.5um

分辨率 0.1um

接觸面積 50mm2（薄膜），200mm2（紙張）  注：紙張需定制

測量速度 10c/min (可調(diào))

外形尺寸 454mmx352mmX500mm

電源 AC220V 50Hz

凈重 30kg

測試原理：

測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。

產(chǎn)品配置：

標準配置：測厚儀主機、標準量塊、微型打印機

選用配置：測試軟件、通信電纜、配重砝碼、自動進樣器