一、工作原理
X射線近邊吸收譜儀利用光子的能量與物質(zhì)內(nèi)部電子能級的差異，通過測量X射線在物質(zhì)中被吸收的能量來分析物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)。在X射線近邊吸收光譜中，每種元素的吸收譜線都具有不同性，這使得我們能夠通過這種技術(shù)來準(zhǔn)確鑒定物質(zhì)中元素的種類和數(shù)量。此外，該技術(shù)還能用于研究物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，如電子結(jié)構(gòu)的變化、化學(xué)鍵的形成和斷裂等。
二、工作特點(diǎn)
小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：
1.支持近邊快掃功能；
2.支持原位測試等擴(kuò)展功能；
3.人體工學(xué)高度設(shè)計(jì)，操作更便捷；
4.內(nèi)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)預(yù)置，實(shí)現(xiàn)快速測量；
5.不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
6.遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)時(shí)顯示實(shí)驗(yàn)進(jìn)程和結(jié)果支持無人值守測試；
7.專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)支持和數(shù)據(jù)分析支持；
8.儀器具有輻射豁免資質(zhì)和多重安全防護(hù)聯(lián)鎖，保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶：
1.不同晶面配置齊全，實(shí)現(xiàn)各個元素覆蓋；
2.預(yù)準(zhǔn)直安裝，即插即用；
3.可根據(jù)需要元素定制特殊彎晶，達(dá)到最佳性能。
三、應(yīng)用領(lǐng)域
1.材料科學(xué)：可用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)、元素分布等，為材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供重要依據(jù)。
2.能源與環(huán)境：可用于研究新能源材料的電子結(jié)構(gòu)、化學(xué)反應(yīng)機(jī)理等，為新能源的開發(fā)和利用提供有力支持。
3.生物學(xué)：可用于研究生物大分子的空間構(gòu)象、功能基團(tuán)以及相互作用等，為生物醫(yī)藥研究提供有力支持。
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