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YAMADA山田光學(xué)用于檢測各種缺陷宏觀觀察用照明裝置檢查燈YP-150I/YP-250I
高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工
是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。
2、光源采用鹵素?zé)?，色溫高，照度不均小，光線極其穩(wěn)定銳利。
3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。
4、兩級切換機構(gòu)，一鍵實現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。
YP-150I 照度范圍：30mmφ
YP-250I 照度范圍：60mmφ
超精密平面檢測的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導(dǎo)體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板
另外，由于采用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高?/p>
光照不均勻的情況很少，光照***穩(wěn)定銳利。
姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。
光源采用鹵素?zé)?/p>
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請用于超精密平面檢測！
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