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當前位置:深圳秋山工業(yè)設備有限公司>>外觀分析設備>>測量裝置>> AW-1000日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動
產(chǎn)品型號AW-1000
品 牌其他品牌
廠商性質經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2025-05-07 21:12:00瀏覽次數(shù):397次
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日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 特點介紹
除了使用激光進行自準直儀角度測量之外,還可以同時測量位移(X、Y、Z)和旋轉角度的測量儀器。
隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個新的水平。
此外,我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設備。
主要測量項目
波前(2D、3D)
點擴散分布
Zernike 系列
MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉方向、3、通過焦點)
日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 規(guī)格參數(shù)
這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設備。
非常適合檢查具有圖像穩(wěn)定功能的鏡頭移位和傳感器移位型執(zhí)行器。
通過采用新裝置,將處理部分內(nèi)置于外殼內(nèi)。只需配置電源和通信電纜即可進行測量。
通過使用專用目標,可以高精度、高速地測量目標物體的位置(X、Y)。
波前(2D、3D)
點擴散分布
Zernike 系列
MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉方向、3、通過焦點)
這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設備。
波前(2D、3D)
點擴散分布
Zernike 系列
MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉方向、3、通過焦點)
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