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圓松(成都)精密儀器設(shè)備有限公司
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鍍層熒光光譜儀 元素分析儀
  • 鍍層熒光光譜儀 元素分析儀
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貨物所在地:四川成都市

地: 中國(guó)

更新時(shí)間:2025-05-17 10:17:35

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Mitutoyo/日本三豐
Mahr/德國(guó)馬爾
長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器
幾何測(cè)量?jī)x器
表面涂裝檢測(cè)
光學(xué)試驗(yàn)儀器
材料檢測(cè)儀器
行業(yè)專(zhuān)用儀器
三坐標(biāo)測(cè)量
鍍層熒光光譜儀 元素分析儀
鍍層熒光光譜儀樣品配置:標(biāo)準(zhǔn)樣品用于制作工作曲線
開(kāi)放式大樣品腔:610mm×320mm×100×
半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ100mm×h75mm
歐盟標(biāo)樣EC680M 銀校正片

鍍層熒光光譜儀 元素分析儀

鍍層熒光光譜儀 元素分析儀

硬件部分主要配置

  1、SDD電制冷探測(cè)器:(新型探測(cè)器)
  1.1. SDD電制冷探測(cè)器;分辨率:129±5e電子伏特
  1.2. 放大電路模塊:對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè);把探測(cè)采集的信息,進(jìn)一步放大。
  2  X射線激發(fā)裝置(薄鈹窗光管):
  2.1. 燈絲電流最大輸出:1mA;
  3  高壓發(fā)射裝置:
  3.1. 電壓最大輸出: 50kV;
  3.2. 最小5kv可控調(diào)節(jié)
  3.3. 自帶電壓過(guò)載保護(hù)
  4 一體化真空系統(tǒng)
  4.1 具有低震動(dòng)、低噪音、自保護(hù)及抽速快等優(yōu)良性能的真空泵系統(tǒng);
  4.2 幾何抽速:60 L/min(50Hz)
  4.3 極限壓力:6.7×10-2 Pa
  5 多道分析器:
  5.1. 將采集的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),并將處理結(jié)果提供給上位機(jī)軟件;
  5.2  最大道數(shù): 4096;
  5.3  包含信號(hào)增強(qiáng)處理功能;
  6 5光路過(guò)濾模塊
  6.1  降低X射線光路發(fā)送過(guò)程中的干擾,保證探測(cè)器接收信號(hào)準(zhǔn)確;
  6.2  將準(zhǔn)直器與濾光處整合;
  7 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換模塊
  7.1 多達(dá)5種選擇
  8 濾光片自動(dòng)切換模塊
  8.1五種濾光片的自由選擇和切換。
  9準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合模塊
  9.1 多達(dá)幾十種的準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合。
  10工作曲線自動(dòng)選擇模塊
  10.1 自動(dòng)選擇工作曲線,摒棄手動(dòng)選擇,避免人為操作失誤,將自動(dòng)化和智能化演繹得更好,使操作更人性,更方便。

鍍層熒光光譜儀 元素分析儀

專(zhuān)用軟件介紹

  1.1有害元素檢測(cè)軟件
  專(zhuān)門(mén)針對(duì)RoHS(含鹵素元素)檢測(cè)而開(kāi)發(fā)(含真空控制功能),對(duì)采集的光譜信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理、計(jì)算并報(bào)告顯示測(cè)量結(jié)果。
  1.2功能介紹
  ※專(zhuān)門(mén)應(yīng)對(duì)歐盟RoHS指令中六種物質(zhì)涉及的五種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr和鹵素元素Cl測(cè)試,測(cè)量時(shí)間為60-300秒(可調(diào))
  ※操作界面簡(jiǎn)潔直觀,使用方便,無(wú)需專(zhuān)業(yè)人士操作
  2元素分析檢測(cè)軟件
  2.1 元素分析范圍:從鈉(Na)到鈾(U);
  2.2 一次可同時(shí)分析24個(gè)元素;
  2.3 分析檢出限可達(dá)1PPM;
  2.4 含量分析范圍一般為1ppm—99.9%;
  2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計(jì)算方法;
  2.6 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%;
  2.7 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1%;
  2.8 能量分辨率為129±5eV;
  2.9  軟件自帶多種圖像處理和計(jì)算方法;
  2.10 應(yīng)用領(lǐng)域:合金(如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金)所含元素含量分析(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素);
  3 鍍層厚度測(cè)試軟件
  3.1 元素分析范圍:從鈉(Na)到鈾(U);
  3.2 一次可同時(shí)分析3層以上鍍層;
  3.3 分析檢出限可達(dá)0.01μm;
  3.4 分析厚度一般為0.1μm到50μm之間;
  3.5 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1μm(對(duì)于小于1μm的最外層鍍層);
  3.6 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1μm(對(duì)于小于1μm的最外層鍍層);
  3.7 配置小孔準(zhǔn)直器,測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi);
  3.8 探測(cè)器能量分辨率為129±5eV;
  3.9 應(yīng)用領(lǐng)域:金屬電鍍層厚度的測(cè)量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等;
  ※可自動(dòng)選擇適合的校準(zhǔn)曲線,測(cè)量更方便,更準(zhǔn)確
  ※中英文界面自動(dòng)切換,并具有第三方語(yǔ)言訂制功能
  ※自動(dòng)校準(zhǔn)儀器
  ※自帶樣品材質(zhì)定性分析,防止手動(dòng)用戶選擇錯(cuò)誤曲線
  ※多種報(bào)告形式打印
  ※可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖
  ※儀器測(cè)試參數(shù)及真空度實(shí)時(shí)顯示,所有掌控一目了然
  ※新型的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù),保證X射線源的安全可靠運(yùn)行,有效延長(zhǎng)其使用壽命,降低使用成本。

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