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所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-10-22 16:04:48瀏覽次數(shù):40次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)v 本套系統(tǒng)主要用于材料表面形貌的觀察;平面或三維測(cè)量??刹捎?/span>3D觀測(cè)模式,對(duì)被測(cè)物形狀,粗糙度,表面積等進(jìn)行測(cè)量,可以做高度,寬度,橫截面,角度,R值,表面積,體積,線粗糙度,面粗糙度等的測(cè)量分析。同時(shí)可以做材料斷口、金相的觀測(cè),陶瓷,微流道,微加工,現(xiàn)代加工制造,MEMS研究,微納制造等
v 光源類型:≤404nm半導(dǎo)體激光
v X/Y方向測(cè)量顯示分辨率:1nm
v Z向測(cè)量顯示分辨率:0.5 nm
v 面掃描速度:≥125Hz、線掃描速度:≥7900Hz
v 角度特性:穩(wěn)定測(cè)量?jī)A角≥87.1度的斜面
v XY載物臺(tái)電動(dòng)運(yùn)行范圍:≥100mm*100mm
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