18772609610,18319843923
當前位置：研啟科學儀器（東莞）有限公司>> 掃描電鏡SEM
v FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域
v 電子槍種類：冷場發(fā)射
v 二次電子圖象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV
v 放大倍數(shù)：20-2,000,000x
v 加速電壓：0.5-30kV
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