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2024年
11月 -
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SONY索尼工業(yè)相機XCG-CG40本系列數(shù)碼相機搭載全球快門CMOS傳感器，采用支持PoE的GigEVision接口。5.以1M、2.4M、1.6M、0.4M畫大小，推出了黑白模型、彩色模型。由于與現(xiàn)有型號XCG-C系列尺寸相同，因此更換也很方便。通過機器視覺等圖像處理，滿足高可靠性、高速度、高靈敏度通過搭載全局快門CMOS傳感器，可實現(xiàn)無失真的高速攝像。尼尼一除了具有符合IEEE1588標準外，還【查看全文】
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北崎供應(yīng)Niigataseiki新瀉精機BB-180L角度儀用于機械、模具
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了Niigataseiki新瀉精機BB-180L角度儀用于機械、模具新瀉精機BB-180L角度儀是一款用于機械、模具、治具工具等的角度測量、組裝和加工基準的精密角度測量器。本產(chǎn)品配備底面磁鐵，可吸附在金屬表面進行測量。它具備絕對測量（ABS）模式和比較測量模式，能夠滿足您不同的測量需求。開機與關(guān)閉開機：按下ON/OFF按鈕，啟動儀器。關(guān)機：長按ON/OFF按鈕，或者讓儀器自動關(guān)機。絕對測量（ABS）模式【查看全文】
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2024年
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原裝現(xiàn)貨日本SEN紫外線燈管SUV90US-43
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了日本SEN紫外線燈管SUV90US-43用于光表面清洗：使用短波長185nm，254nm對物體表面進行UV清洗，改質(zhì)。由石英玻璃或特種石英玻璃制成。有SEN、EYE、GS、HERAEUS等多個品牌，也可根據(jù)客戶的特殊需要訂做。干式清洗領(lǐng)域：LCD用玻璃的精密清洗半導(dǎo)體/電子部件的精密度清洗液晶玻璃清洗表面改質(zhì)領(lǐng)域：LCD用玻璃的表面涂層前處理樹脂材料表面的接著前處理其他領(lǐng)域：金屬表面的酸性膜處理紫外線【查看全文】
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#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SANKO三高電磁模擬涂層測厚儀SL-5P它用于測量細管、彎頭中的薄膜等，例如無法接近的內(nèi)表面、底部和底部表面。它具有探頭結(jié)構(gòu)，具有一個小型的兩極測量桿和一個細長的導(dǎo)軌。測量范圍0~1毫米測量精度±2μm或讀數(shù)的±5%最小測量管徑φ20權(quán)力AA電池（1.5V）×8，交流適配器工作溫度0~40°C（非冷凝）飛機尺寸190（寬）×90（高）×120（深）毫米重量1.8千克附屬品標準木板、AC適配器、肩包式【查看全文】
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2024年
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#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SANKO三高砂漿水分儀PM-101直流電阻。上限報警，平均值顯示特征砂漿、混凝土和塑料的水分測量、控制和檢查。測量不受密度、埋地鋼筋等的影響。測量范圍1~15%1~100（MC模式）模式切換砂漿和混凝土，石膏，MC模式平均值顯示顯示最多20個數(shù)據(jù)的平均值（關(guān)閉電源時刪除）顯示分辨率0.1%1（MC模式）顯示方法LCD顯示屏，帶保持功能，電池電量指示鬧鐘設(shè)置上限設(shè)定1.5~14.5%0.5%步長可選設(shè)【查看全文】
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2024年
11月 -
SHASHIN寫真化學(xué) 進口供應(yīng)紅外吸收涂層測厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)進口供應(yīng)紅外吸收涂層測厚儀使用光吸收法可以測量半透明片材、低反射膜、有機硅等的厚度，這是使用光學(xué)干涉的反射光譜膜測厚儀難以做到的。這是一種可以通過顯微圖像光譜以高分辨率可視化薄膜厚度分布的薄膜厚度計?？梢砸?0nm或更低的高分辨率測量顯微鏡視野內(nèi)某個區(qū)域內(nèi)透明多層薄膜的厚度分布。由于它是一種使用光學(xué)干涉法的反射光譜方法，因此很容易獲得0.1nm或更小的膜厚精度。【查看全文】
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SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時測量100多個波長的光譜儀，準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數(shù)。1測量半透明片材、低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測量【查看全文】
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日本供應(yīng)SHASHIN寫真化學(xué)成像圖層膜厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)成像圖層膜厚儀這是一種可以通過顯微圖像光譜可視化透明多層膜的膜厚分布的膜厚計。由于薄膜厚度是通過光學(xué)干涉法計算的，因此薄膜厚度分布可以以0.1nm或更低的分辨率以3D形式顯示。在顯微鏡視場中測量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質(zhì)量分布，并以3D形式顯示分布分辨率與可見光波長光學(xué)涂層測厚儀相當波長范圍從450nm到750nm，可以1nm的增量使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計算引擎進行并行計算【查看全文】
