美國(guó)Bakerhughes貝克休斯超聲波探頭如何選擇  

簡(jiǎn)介

70年來(lái)，Krautkr?mer超聲探頭一直是質(zhì)量的代名詞 - 嚴(yán)控探頭生產(chǎn)每一環(huán)節(jié) （原德國(guó)Krautkr?mer 原美國(guó)GE）

我們的核心技能是能夠保證每個(gè)超聲探頭能夠滿足各種簡(jiǎn)單和復(fù)雜的檢測(cè)應(yīng)用要求，我們?cè)谠O(shè)計(jì)和生產(chǎn)探頭時(shí)，確保每一生產(chǎn)工藝優(yōu)化，確保每個(gè)探頭的質(zhì)量，使探頭性能得到優(yōu)化，滿足各種檢測(cè)應(yīng)用要求

需求分析：

我們已經(jīng)設(shè)計(jì)生產(chǎn)了超過(guò)一百萬(wàn)個(gè)超聲探頭，包括14000個(gè)特殊應(yīng)用探頭，我們具有非常豐富的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭經(jīng)驗(yàn)，我們會(huì)根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用需求選擇最佳的探頭設(shè)計(jì)方案。

生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)：

為了確保每個(gè)探頭的質(zhì)量，我們嚴(yán)格執(zhí)行探頭生產(chǎn)規(guī)范和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)

仿真設(shè)計(jì)：

在探頭最初設(shè)計(jì)階段，我們使用先進(jìn)的仿真軟件仿真超聲聲場(chǎng)，優(yōu)化探頭設(shè)計(jì)，同時(shí)我們對(duì)使用仿真軟件有非常豐富的經(jīng)驗(yàn)，非常了解仿真軟件的局限性，我們知道如何根據(jù)仿真結(jié)果優(yōu)化設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭。

應(yīng)用測(cè)試：

我們?cè)谌蛴袘?yīng)用中心，能夠在應(yīng)用中心實(shí)驗(yàn)室對(duì)各種復(fù)雜應(yīng)用工件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試，根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)試效果研究出最佳檢測(cè)方案，你要做的只是將需檢測(cè)的工件寄給我們。

材料選擇和加工

我們?cè)诓少?gòu)原材料時(shí)使用最高標(biāo)準(zhǔn)，并且我們的內(nèi)部制造按照ISO標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行控制。我們?cè)趷蹱柼m香農(nóng)的工廠生產(chǎn)壓電復(fù)合陶瓷品片，能夠根據(jù)具體要求生產(chǎn)最佳壓電品征。

原型探頭

在充分了檢測(cè)需求之后，我們制作原型探頭，以進(jìn)一步驗(yàn)證該解決方案的有效性。

探頭測(cè)試

我們確保每個(gè)探頭的可重復(fù)性和穩(wěn)定性，每個(gè)探頭在每一生產(chǎn)環(huán)節(jié)都根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范嚴(yán)格測(cè)試，確保滿足技術(shù)規(guī)范要求。我們每個(gè)探頭都有序列號(hào)，記錄每個(gè)探頭的所有技術(shù)參數(shù)，并且生成測(cè)試報(bào)告保存于我們的數(shù)據(jù)庫(kù)中，我們提供探頭技術(shù)參數(shù)，包括每個(gè)探頭的探頭波形和頻譜結(jié)果，以及各技術(shù)參數(shù)的誤差范圍。

制造生產(chǎn)

我們能夠根據(jù)歐州標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)制造生產(chǎn)探頭，我們也可以根據(jù)各地的規(guī)范要求生產(chǎn)探頭，也可以根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用要求定制生產(chǎn)探頭，如修改探頭外殼設(shè)計(jì)、探頭接口，以及晶片尺寸和形狀，包括非標(biāo)準(zhǔn)頻率、靈敏度、帶寬和聚焦等性能。

配送

通過(guò)我們的全球分銷站點(diǎn)和客戶服務(wù)資源為您提供最佳配送方案，確保全程提供訂單狀態(tài)，直到探頭到達(dá)您的手中。

支持

我們的專家資源可幫助您應(yīng)對(duì)各種具有挑戰(zhàn)性的超聲檢測(cè)應(yīng)用需求，包括現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師和可以通過(guò)電話或電子郵件全天候與您聯(lián)系的遠(yuǎn)程服務(wù)技術(shù)人員。我們的探頭提供一年標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)保期。

一般信息探頭基本類型

此產(chǎn)品目錄中的超聲探頭傳感器分為兩大類，即接觸式和水浸式入式。

用于接觸式檢測(cè)方法的探頭傳感器

直探頭-單晶

•工件形狀規(guī)則，檢測(cè)面相對(duì)光滑

•適用于平面或帶曲率接觸面

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測(cè)厚度較大的工件

•延遲塊探頭能提高近表面分辨力

•需要耦合劑

•日常檢測(cè)常用探頭

直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)

•通過(guò)隔聲層使發(fā)射與接收晶片獨(dú)立分開

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測(cè)厚度較小工件

•需要耦合劑

•日常檢測(cè)常用探頭

度波束斜探頭

•斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸

•橫波或縱波以特定角度入射

•常用的斜探頭為橫波探頭

•檢測(cè)與入射聲束垂直的缺陷

•有單晶與雙晶斜探頭

•需要耦合劑

•有時(shí)用于掃查器或自動(dòng)掃查

用于浸入式方法的傳感器

水浸探頭浸入式傳感器

•通過(guò)水耦合達(dá)到最佳耦合效果

•用于結(jié)構(gòu)較規(guī)則工件

•常用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)

•耦合效果穩(wěn)定一致，檢測(cè)結(jié)果可重復(fù)性好

•可用于掃查架，噴水式檢測(cè)

•可以通過(guò)聚焦提高靈敏度和分辨力

聚焦水浸探頭入式傳感器

•點(diǎn)聚焦模式

•線聚焦模式

聚焦優(yōu)勢(shì)

提高對(duì)小缺陷的敏感檢測(cè)靈敏度

球面形（點(diǎn)）聚焦 圓柱面（線）聚焦

用于接觸式檢測(cè)方法的探頭傳感器直探頭-單晶

•工件形狀規(guī)則，檢測(cè)面相對(duì)光滑

•適用于平面或帶曲率接觸面

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測(cè)厚度較大的工件

傳感器探頭選擇標(biāo)準(zhǔn) - 北美標(biāo)準(zhǔn)

根據(jù)美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)制造的探頭，Baker Hughes Inspection Technologies 提供三種系列探頭： Alpha、Benchmark， 和 Gamma 系列。 所有探頭均根據(jù) ASTM E-1065標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試報(bào)告提供波形和頻譜等相關(guān)信息。

•建議用于對(duì)檢測(cè)分辨率有較高要求的檢測(cè)應(yīng)用。

•適用于對(duì)分辨力要求高的厚度測(cè)量和近表面缺陷檢測(cè)等應(yīng)用。

•脈沖非常短，達(dá)到目前探頭技術(shù)極限。

•靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。

•帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50％ 至 100％。

•典型的 Alpha 波形（右圖）通常只有一到兩個(gè)完整的回波周期

Benchmark 系列探頭功能

•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復(fù)合材料。

•對(duì)高衰減材料的穿透性遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)探頭。

•對(duì)粗晶粒金屬材料、碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料檢測(cè)具有高信噪比。

•回波脈沖短 - 分辨率通常優(yōu)于 Gamma 系列。

•靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。

•高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60％ 至 120％。

•晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能，與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。

Gamma 系列功能

•常用探頭，適用于大多數(shù)日常檢測(cè)應(yīng)用要求。

•中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優(yōu)化組合。

•電子匹配性能確保較高的檢測(cè)靈敏度，牲犧一定分辨力

•中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30％ 至 50％。

•典型的 Gamma 波形會(huì)顯示三到四個(gè)完整回波周期，取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數(shù)。