貝克休斯超聲波測(cè)厚儀探頭
貝克休斯超聲波測(cè)厚儀探頭
歐洲規(guī)格G...MN系列
A=11B=13 C=25.6
晶片直徑5mm帶寬45-65 Microdot接口，延遲塊需單獨(dú)訂貨
型號(hào) | 頻率 | 近場距離 |
G5MN | 5MHz | 5mm |
G10MN | 10MHz | 10mm |
G15MN | 15MHz | 15mm |
9.5mm延遲塊CLFV1
12.5mm延遲塊CLFV3
北美規(guī)格DFR系列
Mini-DFR:A=10.4mmB=19.6mm C=4.8mm
6mm晶片DFR:A=13mmB=21.3mm C=7.6mm
13mm晶片DFR:A=22.4mmB=35.1mm C=15.2mm
Mini-DFR探頭晶片尺寸3mm,頻率20MHz,帶寬50-100,Microdot接口
型號(hào)：FDCP--XCDR MINIDFR 20X.12
探頭訂貨號(hào)：113-518-650，延遲塊訂貨號(hào)：118-400-502
6mm/13mm晶片DFR探頭6dB帶寬范圍50% -100%
DFR探頭訂貨號(hào)：
探頭頻率 | 晶片直徑 | 探頭訂貨號(hào) |
2.25 | 6 | 113-122-660 |
13 | 113-140-500 | |
3.5 | 6 | 113-123-660 |
5 | 6 | 113-124-660 |
13 | 113-144-660 | |
10 | 6 | 113-126-660 |
13 | 113-140-602 | |
15 | 6 | 113-127-660 |
配合6mm晶片的9.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-050
配合6mm晶片的12.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-051
配合13mm晶片的12.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-052
筆試探頭K-PEN
聚集，高分辨率筆式探頭
延遲塊、手柄可更換
極小接觸面，用于高度彎曲表面，如渦輪葉片
能夠伸到表面凹坑底部測(cè)量壁厚
探頭訂貨號(hào)：
7.5MHz | 20MHz | |
筆直探頭 | 389-042-200 | 389-030-290 |
45°探頭 | 389-042-880 | 389-041-270 |
90°探頭 | 389-042-870 | 389-040-66 |
直徑1.7mm延遲塊387-003-109
直徑2.3mm延遲塊387-003-110
貝克休斯 絕對(duì)式渦流探頭 系列
特征：
絕對(duì)式
屏蔽式
筆式塑料外殼（方便手持）
Micordot接口
用途：
鐵或非鐵材料的表面開口缺陷檢測(cè)
適合在狹窄的空間檢測(cè)
貝克休斯 探傷儀歐規(guī)探頭 系列
特點(diǎn)
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護(hù)膜探頭有更高增益余量
應(yīng)用
用于檢測(cè)結(jié)構(gòu)簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲(chǔ)罐、小型鍛件
疊層、分層結(jié)構(gòu)、粘接檢測(cè)
大型部件和難于穿透的材料檢測(cè)
美國Bakerhughes 貝克休斯超聲波探頭 系列
貝克休斯超聲波探頭
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