日本KETT厚度計 涂鍍層測厚儀 LZ-200J
特點 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
日本KETT厚度計 涂鍍層測厚儀LZ-200J 技術參數： | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
- 其他品牌
- OLYMPUS/奧林巴斯
- NETZSCH/德國耐馳
- FOERSTER/德國
- Helmut Fischer/德國菲希爾
- ERICHSEN/德國儀力信
- Taber/美國泰伯爾
- Kanomax/日本
- Sonatest/英國聲納
- DeFelsko/美國狄夫斯高
- DAKOTA/美國
- TESTO/德國德圖
- ElektroPhysik/德國EPK
- SHIMPO/新寶
- New Cosmos/日本新宇宙
- KETT/日本
- TREND/英國
- 貝克休斯
- Motive/中國臺灣
- VeEX/韋克斯美國
- DRUCK/德魯克
- Sensopart/德國森薩帕特
- LIST/李斯特
- ELCOMETER/英國易高
- Hitachi/日立
- 貝爾
- FLUKE/福祿克
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- TES/中國臺灣泰仕
- KYKY/中科科儀
- Belec/德國貝萊克
- FISCHER/德國
- TeKtronix/美國泰克
- OPTEX/奧普士
- Qnix/德國尼克斯
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達
- CENTER/中國臺灣群特
- MarCal/德國馬爾
- Optris/德國歐普士
- Raytek/美國雷泰
- AND/艾安得
- Sartorius/賽多利斯
- Anton Paar/安東帕
- 德國德爾格
- 法國奧德姆
- FLIR/菲力爾
- Bushnell/美國博士能
- PRUFTECHNIK/普盧福
- MITUTOYO/日本三豐
- ALBEDO/西班牙阿貝多
- TSI/美國
- 英思科
- RIKEN/日本理研
- Multi/日本萬用
- IDEAL INDUSTRIES/美國理想
- Bosello/意大利寶石隆
- Colenta/奧地利科侖塔
- TOSHIBA/東芝
- coliy/德國柯雷
- 儀景通
- KYORITSU/日本共立
- RTE/瑞泰爾
- BYK/德國
- LANDTEK/蘭泰
- MEGGER/美國
- AZ/中國臺灣衡欣
- UNI-T/優(yōu)利德
- SENSEXRF/善時
- DUERR/德國
- DURR/德國
- SONIX
- TIME/北京時代
- GTI
- ARTECHE/西班牙
化工儀器網