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北京澳普樂科技開發(fā)有限公司
主營產(chǎn)品: 紙張白度儀,紙張摩擦系數(shù)儀,薄膜摩擦系數(shù)儀 |

聯(lián)系電話
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微觀掃描儀的優(yōu)點有:
l 三種儀器合而為一
l 系統(tǒng)設計適用于從平滑到非常粗糙,從漿到紙板的各種表面的灰塵探測
l 快速,高精度的自動測試
l 根據(jù)ISO9000追蹤標準進行自動校準
l 數(shù)字化映像的顯示、存儲和打印
l 支持其他軟件
微型掃描儀曾用于:
l 新聞紙 輪轉凹版印刷紙 靜電復印紙 紙張 卷煙紙
l 膠版紙 瓦楞介質 衛(wèi)生紙 麻紙 紙巾 墊板 手抄紙
硬件說明
連續(xù)狀態(tài)256色灰度CCD成像機與一臺高速的計算機相接??蓲呙杓胺治龅钠矫娣秶鸀?/SPAN>12cm2。樣品光源是用于反射測試(灰塵和印刷不均勻性)的圓形漫射熒光燈 380nm?。?/SPAN>740nm,及用于透射樣本(成型)的帶反饋控制的漫射石英鹵燈。反饋控制自動調整光源強度以適應大范圍定量變化。TAPPI/CPPA相等黑色區(qū)域的灰塵定標標準包含在內(nèi)。
塵埃分析
根據(jù)TAPPI方法T563和CPPA標準D.35.P“通過映像分析測量可見塵埃"的規(guī)定,塵埃分析就是獲取相等黑色區(qū)域(EBA)值。這是利用漫射白光和局部探測臨界點消除陰影補償而獲得的,并且是與紙張亮度、勻度和表面粗糙度相對獨立的。測試結果同時報告塵埃的物理面積(>0.007mm2)和EBA(>0.010mm2)。測試結果包括:
w 探測到的污點數(shù)
w 平均污點尺寸 mm2
w PPM mm2/m2
w 計數(shù)不穩(wěn)定性
w 污點尺寸分布直方圖
w 碎片數(shù)/m2
臨界點設置是自動進行的,且符合TAPPI和CPPA方法。含TAPPI /CPPA/ISO的相關黑色區(qū)域的塵埃校準標準。
勻度分析
利用漫射透射光分析在不同光密度(OD)條件下的定量從15g/m2衛(wèi)生紙到500g/m2漂白紙板的紙樣,帶紅外過濾的光學系統(tǒng)與CCD傳感器具有同樣的靈敏度。測試結果包括:
w 云彩花間的密度對比度
w 云彩花比周長
w 基于云彩花尺寸和對比度的勻度指數(shù)
w 可調云彩花尺寸分布直方圖
w CD方向概觀
印刷均勻性分析
印刷勻性分析采用與勻度分析相同的方式分析密度變化情況,只是光源改為反射光。主要有以下應用:
w 印刷斑點
w KN油墨測試
w 石墨摩擦分析
w “透明點"掛面板分析
透射光對立面
透射光對立面探測非暗即亮。暗對立面如不透明體沾染物;亮對立面如針孔和透明點。結果的報告方式與物理灰塵分析一樣。
選項
激光打印機
TAPPI/British 手抄紙自動旋轉架
X-Y支架