NexION 2000 ICP-MS 還使用了，LumiCoil ™——獲得全新等離子體加感線圈，它是由珀金埃爾默公司的研究和技術(shù)小組專為 NexION 2000 和全新設(shè)計(jì)的固態(tài)射頻發(fā)生器設(shè)計(jì)的。一般而言，等離子體加感線圈由銅管制成，并需要一直進(jìn)行主動(dòng)液體或氣體冷卻，才能大限度地減少線圈的氧化和退化。除了氧化以外，銅加感線圈容易受到化學(xué)腐蝕，尤其是當(dāng)使用了腐蝕性樣品的時(shí)候。銅表面氧化層的堆積不僅會(huì)進(jìn)一步導(dǎo)致線圈過(guò)熱，造成更多氧化物堆積，還會(huì)改變線圈作為射頻電感器的特性，造成向等離子體傳輸功率的效能變差。線圈退化還會(huì)造成長(zhǎng)期信號(hào)漂移，靈敏度大大降低，特別是對(duì)于高 IP 元件。缺陷點(diǎn)的嚴(yán)重氧化會(huì)使線圈相鄰的彎折處形成電弧。因此一般認(rèn)為銅感應(yīng)線圈屬于消耗性零部件，應(yīng)根據(jù)儀器的操作條件定期予以更換。
自冷加感線圈：LumiCoil LumiCoil 射頻線圈通過(guò)消除加感線圈的氧化和腐蝕大大延長(zhǎng)操作壽命、增強(qiáng)等離子體穩(wěn)定性和等離子體發(fā)生器的 MTBF。LumiCoil 的亮點(diǎn)是沿線圈分布有一排散熱片。和傳統(tǒng)的加感線圈不一樣，全新的線圈設(shè)計(jì)無(wú)需主動(dòng)冷卻。散熱片可以大大增加線圈的表面積，因而線圈周圍的空氣通風(fēng)足以使線圈維持在適當(dāng)?shù)墓ぷ鳒囟取Ｈ缬斜匾?，LumiCoil 射頻線圈的維修和清潔也更加簡(jiǎn)單，因?yàn)樗鼈兪菬o(wú)泄漏的液體或氣體管線。
聯(lián)結(jié) LumiCoil 的功率增加作為固件的加感線圈的表面積有助于冷卻，且不考慮射頻電流方向，這將降低等離子體的功率密度。原因是從加感線圈至氬等離子體，射頻功率通過(guò)磁性耦合。超大尺寸的線圈繞組表面會(huì)激勵(lì)雜散射頻電流流過(guò)更多的金屬表面。使降低了互感系數(shù)，使加感線圈和等離子體炬中生成的等離子體之間的磁鏈復(fù)雜化。
因此在 LumiCoil 設(shè)計(jì)中，每個(gè)散熱片的位置是經(jīng)過(guò)計(jì)算的，并且設(shè)計(jì)寬度較窄，用來(lái)抑制在散熱片中徑向流動(dòng)的同軸射頻電流（如圖 5 所示的紅色部分）。LumiCoil 中*的散熱片設(shè)計(jì)使射頻驅(qū)動(dòng)電流只流經(jīng)已界定的線圈繞組（如圖 5 所示的藍(lán)色部分）和流入等離子體炬的附近區(qū)域。如此一來(lái)，磁鏈大化，射頻功率與等離子體炬實(shí)現(xiàn)電感耦合。
LumiCoil 線圈的材質(zhì)使用特種鋁合金，在表面形成一層氧化鋁。該氧化層能高度抗化學(xué)腐蝕，和有效消除材料的熱誘導(dǎo)氧化過(guò)程，從而保護(hù)線圈。因此和銅加感線圈相比，LumiCoil 擁有更長(zhǎng)的操作壽命。通過(guò)在若干個(gè)裝置上用多個(gè)樣品類型進(jìn)行測(cè)試，LumiCoil 在連續(xù)運(yùn)行一年后無(wú)任何退化跡象，而與之相比的常規(guī)銅加感線圈在同樣的測(cè)試條件下只維持了三個(gè)月。因此 LumiCoil 技術(shù)幫助用戶將更多的關(guān)注度放在樣品分析本身，而不是加感線圈的維護(hù)（即停機(jī)時(shí)間更少，效率更高）。這不僅增加了儀器的樣品通量，還減少了系統(tǒng)零部件的更換數(shù)量，從而降低了儀器的運(yùn)行成本。
與傳統(tǒng)的等離子體加感線圈相比，LumiCoil 還達(dá)到了更優(yōu)異的機(jī)械剛性。剛性陶瓷墊片使線圈繞組之間保持正確的距離，保護(hù)線圈不變形。另外，熱和機(jī)械應(yīng)力沿著線圈均勻地分布。
使用壽命延長(zhǎng)、電感耦合優(yōu)化和使用空氣而不是昂貴的液體或氣體冷卻等優(yōu)點(diǎn)使得 LumiCoil 技術(shù)為先進(jìn)的射頻發(fā)生器錦上添花，提供了*的等離子體操作。
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