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單顆粒 ICP-MS 測定鐵納米顆粒：利用通用池技術(shù)消除質(zhì)譜干擾

隨著納米顆粒興趣的增加，各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-M...

電子/電氣檢測2021年05月26日
單顆粒ICP-MS測定化學(xué)-機(jī)械整平中使用的元素氧化物納米顆粒懸浮物的特性

本研究概述了定量和表征納米元素氧化物納米顆粒（氧化鋁和氧化鈰），這些常用于納米電子學(xué)和半導(dǎo)體制造行業(yè)...

電子/電氣檢測2021年05月26日
采用液-液萃取與 GC/MS 大體積進(jìn)樣方法測定飲用水中低含量的半揮發(fā)性有機(jī)化合物

為簡化樣品制備程序并降低方法檢測限，本文提出了一種更為有效、更快速的SVOC測定方法。該方法利用快速...

環(huán)保檢測2021年05月21日
按照倫敦金屬交易所指南使用 Avio 200 ICP-OES 分析鋁合金中的添加元素

本文使用 Avio 200 ICP-OES 測定 LME 規(guī)格要求的鋁合金中的添加組分。

鋼鐵/金屬檢測2021年05月19日
按照 EN 15621 的標(biāo)準(zhǔn)要求利用 Avio 500 ICP-OES 測定動(dòng)物飼料中的營養(yǎng)物

本文討論了利用Avio 500 ICP-OES按照歐標(biāo)EN 15621針對(duì)動(dòng)物飼料中營養(yǎng)物的分析方法...

食品/農(nóng)產(chǎn)品檢測2021年05月19日
利用單顆粒ICP-MS 在反應(yīng)模式下測定半導(dǎo)體有機(jī)溶劑中的含鐵納米顆粒

半導(dǎo)體產(chǎn)品中的金屬污染使產(chǎn)品品質(zhì)降低。半導(dǎo)體寬度越小，對(duì)金屬污染物的容忍度越低。常見的金屬污染是過渡...

電子/電氣檢測2021年05月06日
使用 NexION 300S / 350S ICP-MS 測定半導(dǎo)體行業(yè)常用有機(jī)溶劑中的雜質(zhì)

本應(yīng)用指南展示了 NexION 300S ICP-MS 抗干擾的能力，僅憑一次分析，便可在熱等離子體...

電子/電氣檢測2021年05月06日
使用 LAMBDA 1050+紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)測量增強(qiáng)型鏡面反射（ESR）膜

目前，增強(qiáng)型鏡面反射膜已應(yīng)用于幾乎所有液晶顯示器的背光源，具體包括電視機(jī)、臺(tái)式電腦、筆記本電腦、平板...

電子/電氣檢測2021年05月06日
紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)測量粉末狀 TiO2 帶隙

測量材料的帶隙對(duì)半導(dǎo)體、納米材料以及太陽能等行業(yè)均非常重要。此篇文章描述了如何從某一材料的紫外吸收光...

電子/電氣檢測2021年05月06日
實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo)法使用 Avio 500 ICP-OES 獲得更高精度

使用 ICP-OES 進(jìn)行測量時(shí)，通?？山邮艿木龋聪鄬?duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差，RSD）為 1-2 %。但是，有...

電池檢測2021年04月28日

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單顆粒 ICP-MS 測定鐵納米顆粒：利用通用池技術(shù)消除質(zhì)譜干擾

隨著納米顆粒興趣的增加，各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-M...

單顆粒ICP-MS測定化學(xué)-機(jī)械整平中使用的元素氧化物納米顆粒懸浮物的特性

本研究概述了定量和表征納米元素氧化物納米顆粒（氧化鋁和氧化鈰），這些常用于納米電子學(xué)和半導(dǎo)體制造行業(yè)...

采用液-液萃取與 GC/MS 大體積進(jìn)樣方法測定飲用水中低含量的半揮發(fā)性有機(jī)化合物

為簡化樣品制備程序并降低方法檢測限，本文提出了一種更為有效、更快速的SVOC測定方法。該方法利用快速...

按照倫敦金屬交易所指南使用 Avio 200 ICP-OES 分析鋁合金中的添加元素

本文使用 Avio 200 ICP-OES 測定 LME 規(guī)格要求的鋁合金中的添加組分。

按照 EN 15621 的標(biāo)準(zhǔn)要求利用 Avio 500 ICP-OES 測定動(dòng)物飼料中的營養(yǎng)物

本文討論了利用Avio 500 ICP-OES按照歐標(biāo)EN 15621針對(duì)動(dòng)物飼料中營養(yǎng)物的分析方法...

利用單顆粒ICP-MS 在反應(yīng)模式下測定半導(dǎo)體有機(jī)溶劑中的含鐵納米顆粒

半導(dǎo)體產(chǎn)品中的金屬污染使產(chǎn)品品質(zhì)降低。半導(dǎo)體寬度越小，對(duì)金屬污染物的容忍度越低。常見的金屬污染是過渡...

使用 NexION 300S / 350S ICP-MS 測定半導(dǎo)體行業(yè)常用有機(jī)溶劑中的雜質(zhì)

本應(yīng)用指南展示了 NexION 300S ICP-MS 抗干擾的能力，僅憑一次分析，便可在熱等離子體...

使用 LAMBDA 1050+紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)測量增強(qiáng)型鏡面反射（ESR）膜

目前，增強(qiáng)型鏡面反射膜已應(yīng)用于幾乎所有液晶顯示器的背光源，具體包括電視機(jī)、臺(tái)式電腦、筆記本電腦、平板...

紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)測量粉末狀 TiO2 帶隙

測量材料的帶隙對(duì)半導(dǎo)體、納米材料以及太陽能等行業(yè)均非常重要。此篇文章描述了如何從某一材料的紫外吸收光...

實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo)法使用 Avio 500 ICP-OES 獲得更高精度

使用 ICP-OES 進(jìn)行測量時(shí)，通?？山邮艿木龋聪鄬?duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差，RSD）為 1-2 %。但是，有...

產(chǎn)品展示

會(huì)員登錄

收藏該商鋪

提示

隨著納米顆粒興趣的增加，各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-M...

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