用磁性方法測定磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度、測定磁性和非磁性基體上鎳層厚度、非磁性基體上非導電覆蓋層的厚度,是應用zui方法的一種無損測厚方法,可依據(jù)的國家標準有三個:

(1)GB/T4956《磁性金屬基體上非磁性覆蓋厚度測量磁性方法》國家標推,等效采用ISO2l78標推。它規(guī)定的測厚方法,是利用夾在磁性測厚儀的磁體與磁性基體之間的非磁性覆蓋層厚度変化與磁引力變化或其磁路磁阻變化存在一定的函數(shù)關(guān)系而設計的。

(2)GB/T13744《磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量»國家標準。它規(guī)定的測厚方法，是利用夾在測厚儀磁體與非磁性基體之間的鎳層厚度的變化與因此而引起的磁引力或磁略的磁阻變化存在一定的函數(shù)關(guān)系而設計的。

(3)GB/T4957《非磁性基體上非導電覆蓋層厚度測定渦流方法》國家標準,等效采用1SO02360標準。它規(guī)定的測厚方法,是利用渦流測厚儀的測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場.使測頭下面的導體產(chǎn)生電渦流;此渦流的振幅與相位和共于導體與測頭之間的非導電覆蓋涂層厚度存在一定的函數(shù)關(guān)系而設計的。當覆蓋層與基體的導電率相差比較大的情況下,也可用來測量非程性導電基體上的非磁性導電覆還層厚度。

利用基體和覆蓋層之間有無磁性和利用電渦流進行測厚的方法,其測量精度受許多因素的影響。在測量厚度時,應盡量避免覆蓋層的厚度、覆蓋層的電導率、基體金屬的電和磁的性質(zhì)(如電導率、磁性、是否存在剩磁等)、基體金屬的厚度、測量面邊緣效應、測量面的曲率.測量面的粗糙度、測頭或測量面上有無異物附著、工作那境周圍的磁場、測量時測頭的壓力、測頭取向、環(huán)境溫度等,對測量準確性的干擾。采用磁性方法和渦流方法測量鍍層厚度時,測量誤差在±10%或1.5µm以內(nèi)。

近年來國內(nèi)市場上不斷有功能先進的磁性測厚儀和電渦流測厚儀推出,儀器的測zui精度可以提高到±3%,測量范圍擴大至0~1000µm,不僅集磁性測厚和電渦流測厚于一身并用液晶顯示,還可以注接既可以用于電磁感應測量又可以用于電渦流測量的雙功能探頭,甚至自動識別基體材料以決定究竟使用那種感應方法來測量，測量的數(shù)據(jù)可以存儲5000個以上,并具有統(tǒng)計和計算功能、打印輸出所有讀數(shù)的功能。當測量較粗糙的表面時,具有校準功能,用以保證必要的精度。