OBLF Veos直讀光譜儀優(yōu)勢在哪里

來源：武漢科賽思機電有限公司 2018年08月13日 11:37

OBLF Veos直讀光譜儀的優(yōu)勢：

1、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導體光敏檢測器，其感光能力比常規(guī)檢測器高100倍以上，覆蓋全部檢測波長范圍；

2、光學系統(tǒng)采用恒溫真空光室，光學及電子元器件置于真空保護中，可不受外界環(huán)境變化的影響，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性；

3、通用多基體分析系統(tǒng)分析通道無限制，用于固體金屬材料成分快速分析；

4、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導體光敏檢測器，其感光能力比常規(guī)檢測器高100倍以上，覆蓋全部檢測波長范圍；

5、開放式激發(fā)臺，適合各種形狀和尺寸樣品分析；

6、真空泵的運行時間小于全部工作時間的5%，工作環(huán)境安靜；

7、可以應用于多基體，不受元素選線的限制；

8、在檢出線、分析精度、和穩(wěn)定性等方面性能優(yōu)異；

9、可以分析氮元素和碳元素（包括超低碳）；

10、能夠在灰塵較多的惡劣環(huán)境中使用。

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