晶振測試儀的主要測試哪些參數(shù)
CX-118A型晶振測試儀
1.概述
CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時(shí)間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計(jì)數(shù)等功能;中心頻率(標(biāo)稱頻率)F0、分檔值Pr1~Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。
2.主要特征
2.1 本機(jī)采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù),測量精度高,測量范圍寬,真正實(shí)現(xiàn)等精度測量,測量速度快,靈敏度高。
2.2 采用單片微機(jī)技術(shù)進(jìn)行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能/價(jià)格比。
2.3 整機(jī)采用大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì),CPLD器件的運(yùn)用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了很大的提高,平均*工作時(shí)間≥10000h。
· 整機(jī)外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。
3.技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
· 頻率測量:A通道:1Hz~100MHz;
B通道:100MHz~1.6GHz(選件)
· 周期測量:A通道:10ns~1s
· PPM測量:-9999~9999ppm
· 上、下限測量:可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)FU、下限參數(shù)FL來測量被測頻率是否超出上、下限,超限則報(bào)警。
· 分檔測量:根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F0自動進(jìn)行分檔測量。 分檔值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之間任意設(shè)置
分檔檔數(shù):以中心頻率F0為中點(diǎn)左右分成16檔
· 累加計(jì)數(shù):計(jì)數(shù)容量:0~109-1 (選件)
計(jì)數(shù)方式:鍵控、門控或外門控可選。
3.2 輸入特性
· 輸入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 輸入耦合方式:AC
3.2.3 波形適應(yīng)性:正弦波、脈沖波
· 輸入電壓動態(tài)范圍:
A通道:30mVrms~250Vp~p
B通道: 30mVrms~1Vrms
3.2.5 A通道低通濾波器:-3dB 帶寬約100kHz
3.2.6 A通道衰減:×1或×20
3.3 測量誤差
3.3.1 頻率或周期測量誤差:±時(shí)基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
100ns
其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)
閘門時(shí)間
觸發(fā)誤差:當(dāng)被測信號的信噪比為40dB時(shí),觸發(fā)誤差≤0.3%
· PPM測量誤差:±時(shí)基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
其中:LSD=(100ns/閘門時(shí)間)×106ppm
例如:閘門時(shí)間=1s時(shí) LSD=0.1ppm
閘門時(shí)間=0.1s時(shí) LSD=1ppm
3.3.3 計(jì)數(shù)誤差:±1
3.4閘門時(shí)間
固定閘門:10ms、100ms、1s、10s 四檔可選;
可調(diào)閘門:50ms~95ms 分10檔,每檔間隔5ms。
3.5 晶體振蕩器
標(biāo)稱頻率:10MHz
頻率穩(wěn)定度:5×10-6/d
(可根據(jù)用戶需求,選配更高量級的晶振。
如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。
3.6 外頻標(biāo)輸入
輸入頻率:10MHz
輸入幅度:>1Vp~p 正弦波
3.7 顯示
13位0.4吋綠色高亮數(shù)碼管,三個(gè)單位LED指示燈(MHz、kHz、Hz),一個(gè)閘門LED指示燈(GATE),一個(gè)外頻標(biāo)LED指示燈(EXT)和一個(gè)PPM單位指示燈(PPM)。
3.8 電源
電壓:交流220V±10%
頻率:50Hz±5%
功耗:<8VA
3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)
3.10 質(zhì)量:<1.5kg
晶振測試盒選配:
晶體測量匹配器:
1Hz-20MHz (標(biāo)配)
20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz
65MHz-100MHz .
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