常見的也是直觀的物位測量方法是直讀式，它是在容器上開一些窗口以便進行觀測。對于液位測量，可以使用與被測容器相連通的玻璃管（或玻璃板）來顯示容器內(nèi)的液體高度。這種方法很可靠、結(jié)果準(zhǔn)確，但它只能用于容器壓力不高，只需現(xiàn)場指示的被測對象。

在工業(yè)生產(chǎn)中，被測介質(zhì)的特性千差萬別，物位測量的方法很多以適應(yīng)各種不同的測量要求，可把它們歸納為以下幾個測量原理：

1、基于力學(xué)原理

敏感元件所受到的力（壓力）的大小與物位成正比，它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測量等。其中：

⑴ 靜壓式物位測量

靜壓式物位測量是根據(jù)流體靜力學(xué)原理，液體內(nèi)某一點的壓力與其所在位置的深度有關(guān)，因此可以用靜壓力表示液位，如連通器式、壓差式和壓力式等。

⑵ 浮力式液位測量

浮力式液位測量是根據(jù)浮在液面上的浮球或浮標(biāo)隨液位的高低而產(chǎn)生上下位移，或浸于液體中的浮筒隨液位變化而引起浮力的變化的原理來測量的。前者一般稱為恒浮力式測量；后者稱為變浮力式測量。

⑶ 重錘式料位測量

重錘式料位測量是利用測量重錘從倉頂?shù)搅厦娴木嚯x的來測量料位的。

2、基于相對變化原理

當(dāng)物位變化時，物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變，通過測量距離的相對變化可獲得物位的信息。這是一種非接觸式的物位測量方法，這種測量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。其中：

⑴ 聲學(xué)式物位測量

聲學(xué)式物位測量利用超聲波在一定狀態(tài)介質(zhì)中的傳播具有一定速度的特性，當(dāng)聲源與物位（分界面）的距離變化時，回聲的時間（從發(fā)射到接收超聲波的時間間隔）也要改變。根據(jù)回聲的時間的變化就可測量出物位的變化。

⑵ 微波式物位測量

微波式物位測量是利用回聲測量距離的原理工作的。

⑶ 激光式物位測量

激光式物位測量與超聲波類似。

3、基于某強度性物理量隨物位的升高而增加的原理

例如對射線的吸收強度，電容器的電容量等。其中：

⑴ 核輻射式物位測量

核輻射式物位測量是利用核輻射線穿透物體的能力以及物質(zhì)對放射性射線的吸收特性進行測量的。目前在物位測量中，一般都采用穿透能力強的γ射線，其放射源采用⁶⁰C_O、¹³⁷C_S等同位素。

⑵ 電氣式物位測量

電氣式物位測量是利用敏感元件直接把物位變化轉(zhuǎn)換為電量參數(shù)的變化。根據(jù)電量參數(shù)的不同，可分為電阻式、電感式和電容式等。目前電容式為常見。

在上述介紹的物位測量技術(shù)中，靜壓式、浮力式只用于液位的測量，重錘式只用于粉狀料位的測量，其余的既可用于液位，也可用于粉狀料位測量。其中，聲學(xué)式、光學(xué)式、微波式及核輻射式屬于非接觸測量。