在使用掃描電鏡的過程中，您是否總是遭遇如下問題：

1. 在不同設備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區(qū)域

2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數，調整像散聚焦

3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡進行全新武裝，特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。

關聯定位分析

蔡司Connect模塊輕松實現光學顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現樣品在不同設備間的重新定位，還能統一管理關聯設備的數據和信息

? 關聯定位：通過關聯樣品臺實現樣品在不同顯微鏡設備之間自動關聯重定位，大幅縮減操作用時

? 數據疊加：自由疊加來自手機，光學顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關能譜信息

? 統一管理：管理來自不同關聯設備的數據，輸出不同信息疊加圖像和視頻

PCB電路板的關聯顯微分析（光鏡，電鏡，能譜信息），左：宏觀圖像；右：感興趣位置局部放大

自動成像

蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數設置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現智能高效的掃描電鏡成像

? 向導式操作流程，界面簡潔，操作簡單

? 根據樣品智能匹配成像參數，實現自動聚焦

? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接

簡潔的SmartSEM Touch操作界面

量化分析

蔡司ZEN模塊實現從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程

? 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向導式的分析工作流程，毫無經驗的新手也可輕松掌握

? 基于機器學習的ZEN Intellesis模塊輕松實現傳統閾值方法難以達成的圖像處理需求

? 豐富的測量功能，如顆粒統計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等

量化分析界面-二值化分割

金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析

滿足多種測量需求——高級測量

含量百分比

晶粒度評級

顆粒分析

孔隙率分析

蔡司智能掃描電鏡解決方案滿足您的多種需求，您可關注蔡司顯微鏡微信公眾號（ZEISSMIK）了解蔡司智能掃描電鏡在生命科學、材料科學、金屬行業(yè)及電子行業(yè)四大領域解決方案。