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涂層測(cè)厚儀采用磁測(cè)和渦流兩種測(cè)厚方法
涂層厚度的測(cè)量方法主要有：楔形切割法、光切割法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光法、β射線(xiàn)背散射法、電容法、磁測(cè)量法和渦流測(cè)量法等。這些方法中的前五種是破壞性測(cè)試。涂層測(cè)厚儀采用磁測(cè)和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損測(cè)量磁性金屬基材（如鋼、鐵、合金、硬磁鋼）上非磁性涂層（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）的厚度。可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)，探頭的系統(tǒng)誤差可通過(guò)基本校準(zhǔn)方法進(jìn)行校正。
1、精度高：測(cè)量范圍0-2000um，精度≤±（3%）讀數(shù)+2μm），測(cè)量數(shù)據(jù)與進(jìn)口涂層測(cè)厚儀一致。
2、綜合測(cè)量：可以無(wú)損測(cè)量磁性基體上非磁性涂層的厚度和非磁性基體上非導(dǎo)電涂層的厚度。
3、操作簡(jiǎn)單：0.5秒快速測(cè)量，無(wú)需校準(zhǔn)，只需調(diào)零，只需按鍵，操作非常簡(jiǎn)單。
4、體積?。褐鳈C(jī)與探頭一體化設(shè)計(jì)，體積小，便于手持?jǐn)y帶。
5、使用壽命長(zhǎng)：探頭采用紅寶石探頭，極耐磨耐腐蝕，可確保儀器長(zhǎng)期有效使用。
涂層測(cè)厚儀有兩種測(cè)量模式：連續(xù)測(cè)量模式和單次測(cè)量模式。它有兩種工作模式：直接模式和組模式。具有刪除功能：刪除測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)，或刪除存儲(chǔ)區(qū)中的所有數(shù)據(jù)重新測(cè)量。
涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理：
1、磁性測(cè)厚法：當(dāng)探頭與金屬基體表面的涂層接觸時(shí)，由于非磁性涂層的存在，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。涂層的厚度可以通過(guò)測(cè)量磁路磁阻的變化來(lái)計(jì)算。
2、渦流測(cè)厚法：利用高頻交流電在線(xiàn)圈中產(chǎn)生的電磁場(chǎng)，當(dāng)探頭與鍍層接觸時(shí)，在金屬基體上產(chǎn)生渦流并對(duì)線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?。涂層的厚度可以通過(guò)測(cè)量反饋效應(yīng)的大小得出。
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