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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM），是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件（探針）之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。
AFM可以對(duì)樣品表面形態(tài)、納米結(jié)構(gòu)、鏈構(gòu)象等方面進(jìn)行研究，獲得納米顆粒尺寸，孔徑，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同時(shí)還能做表面結(jié)構(gòu)形貌跟蹤（隨時(shí)間，溫度等條件變化）。也可對(duì)樣品的形貌進(jìn)行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺。結(jié)合儀器的各種標(biāo)準(zhǔn)操作模式以及附件，可在進(jìn)行高分辨成像的同時(shí)，獲得包括樣品力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)。
原子力顯微鏡使用的注意事項(xiàng)：
①粉末/液體樣品請(qǐng)備注好制樣條件，包括分散液、超聲時(shí)間及配制濃度；
②測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小＞0.5*0.5cm；
③PFM、KPFM測(cè)試需要樣品表面十分平整，粉末測(cè)試很難測(cè)到較好結(jié)果，下單前請(qǐng)確保風(fēng)險(xiǎn)可接受；
④塊狀樣品需要固定好，避免在寄送過程產(chǎn)生晃動(dòng)或摩擦影響測(cè)試結(jié)果；
⑤超聲不超過20min，如需長時(shí)間超聲，需要自己超聲好以后給我們，但是長時(shí)間超聲后，對(duì)樣品的影響會(huì)比較大，需自行承擔(dān)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)；
⑥常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目每樣提供2~3張圖片，特殊測(cè)試項(xiàng)目每樣提供1~2張圖片，力曲線每樣測(cè)試3~5條。
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