PCT高壓加速老化試驗箱是縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間等性能測試必*儀器,主要用于測試產(chǎn)品的耐高溫、高濕、高壓之性能;可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)過程中的不良或缺陷,以便更好的完善產(chǎn)品之各項性能指標(biāo)。
該設(shè)備主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
PCT高壓加速老化試驗箱的技術(shù)要點主要有:密封效果、安全性能、操作方式:
1、密封效果:它是依靠箱體內(nèi)部的壓力將箱門與內(nèi)箱緊密的吸合來實現(xiàn)良好的密封效果,當(dāng)箱體內(nèi)部的壓力為0.1MPa時,內(nèi)箱就會以0.1MPa的力將箱門吸合剛好達(dá)到良好密封的效果,不需要多余的壓力就能輕松完成;當(dāng)箱體內(nèi)部的壓力為0.2MPa時,內(nèi)箱就會以0.2MPa的吸力將箱門吸合實現(xiàn)密封,整個密封過程基本上都是由設(shè)備本身來實現(xiàn)的。
2、安全性能:在試驗過程中,隨著箱體內(nèi)部的壓力增加,反壓門扣會自動鎖緊,箱門是無法打開的,這樣能更有效地防止操作人員無意打開危險發(fā)生,當(dāng)箱體內(nèi)部的壓力排泄完畢,反壓門扣又會自動解鎖,真正起到門禁的作用。
3、操作方式:平面反壓式箱門設(shè)計,使用者只需在關(guān)門時將把手逆時針旋轉(zhuǎn)180度,其它就交由設(shè)備自動完成就好。安全、方便、快捷、效果好。
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