市電升成高壓到射線管，利用高速電子撞擊靶材產(chǎn)生原級X射線，原級X射線經(jīng)過聚焦、濾光、準(zhǔn)直后打到樣品上，激發(fā)出各種元素的特征X射線，接收器接收后，對數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，由計(jì)算機(jī)進(jìn)行定性、定量分析。通過檢測到的光子數(shù)量，可以對被測物進(jìn)行定量分析。但是實(shí)際分析中很多學(xué)者和廠家難以解決以下幾個(gè)技術(shù)難點(diǎn)，跟著X熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下吧。

　　定量分析技術(shù)難點(diǎn)一：射線具有一定的穿透能力，由圖中可以看出，每一層的特征X射線在出射過程中，都會(huì)產(chǎn)生相互的干擾，例如：C層的特征射線在進(jìn)入到接收器以前，將收到B、A兩層的吸收和增強(qiáng)效應(yīng)的影響。

　　定量分析技術(shù)難點(diǎn)二：要計(jì)算每一層的熒光強(qiáng)度與鍍層厚度之間的關(guān)系，將是一個(gè)非常復(fù)雜的計(jì)算公式，如下式：

　　定量分析難點(diǎn)三

　　隨著鍍層層數(shù)或者元素種類的增加，越靠近內(nèi)層的鍍層或者元素檢測誤差越大;同時(shí)外層鍍層元素也將受到內(nèi)層的影響，測試精度也將大大下降。為解決多鍍層多元素的影響，往往在實(shí)際的應(yīng)用中，考慮更多的影響元素迭代算法(即Fp、EFp法)同時(shí)，采用實(shí)際相近的涂鍍層、成分的樣品做比較測量(即采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法對比測試的方法)，這樣可以相應(yīng)減少各層各元素之間干擾所引起的測試精度的問題。

　　很多學(xué)者無法完整考慮到里面的復(fù)雜關(guān)系，而且隨著計(jì)算機(jī)計(jì)算能力的發(fā)展，算法還在繼續(xù)完善和演進(jìn)。

　　以上就是X熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于X熒光光譜測厚儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。