HL8001系列zeta電位分析儀  

常見的幾種測試電位方法：

zeta電位可用來作為膠體體系穩(wěn)定性的指標(biāo)，如果顆粒帶有很多正的或者負(fù)的電荷，它們就會相互排斥，從而達(dá)到整個體系的穩(wěn)定性。相反，如果顆粒帶有很少正的或者負(fù)的電荷，它們就會相互吸引，從而達(dá)到整個體系的不穩(wěn)定性。一般來說，zeta電位愈高，顆粒的分散體系愈穩(wěn)定，水相中顆粒分散穩(wěn)定性的分界線一般認(rèn)為在+30mV或-30mV，如果所有顆粒都帶有高于+30mV或低于-30mV，則該分散體系應(yīng)該比較穩(wěn)定。

zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。現(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準(zhǔn)確地測得。大致原理為：通過電化學(xué)原理將測量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態(tài)光散射，運(yùn)用波的多普勒效應(yīng)測得。

zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與*內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。

zeta電位儀應(yīng)用行業(yè)：

1.半導(dǎo)體：研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

2.醫(yī)藥和食品行業(yè)：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。

3.陶瓷和顏料工業(yè)：表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

4.聚合物和化工領(lǐng)域：乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。