本公司提供的透射電鏡力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米層面實(shí)時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡力電原位系統(tǒng)的優(yōu)勢：

1、力學(xué)性能

（1）高精度壓電陶瓷驅(qū)動，納米級別精度數(shù)字化精確定位。

（2）可進(jìn)行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學(xué)性能測試。

（3）nN級力學(xué)測量噪音。

（4）具備連續(xù)的載荷-位移-時間數(shù)據(jù)實(shí)時自動收集功能。

（5）具備恒定載荷、恒定位移、循環(huán)加載控制功能，適用于材料的蠕變特性、應(yīng)力松弛、疲勞性能研究。

2、優(yōu)異的電學(xué)性能

（1）芯片表面的保護(hù)性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達(dá)皮安級。

（2）MEMS微加工特殊設(shè)計，電場和力學(xué)加載同時進(jìn)行，相互獨(dú)立控制。

3、智能化軟件

（1）人機(jī)分離，軟件遠(yuǎn)程控制納米探針運(yùn)動。

（2）自動測量載荷-位移數(shù)據(jù)。