為了研究植物生長、產(chǎn)量和品質(zhì)與光能利用的關(guān)系，需要調(diào)查植物冠層中的光能資源，測(cè)量植物冠層對(duì)光的截獲量。  在不成熟的過去，研究人員很難對(duì)技術(shù)進(jìn)行測(cè)量和分析，這往往需要大量的時(shí)間和精力。  如今，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，冠層分析儀已經(jīng)被研究人員很好的使用。  從實(shí)際應(yīng)用來看，該儀器仍然可以發(fā)揮很大的作用。  

首先，我們來說說直接測(cè)量和間接測(cè)量是如何進(jìn)行的。  直接測(cè)量是測(cè)量所有葉片的葉面積，然后計(jì)算LAI。因?yàn)橐獪y(cè)量的葉片都要剪掉，所以大部分都是破壞性測(cè)量，或者至少會(huì)干擾冠層和葉角的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量。直接測(cè)量費(fèi)時(shí)費(fèi)力。  間接測(cè)量是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射和環(huán)境相互作用的耦合關(guān)系，通過冠層分析儀測(cè)量植物冠層的相關(guān)數(shù)據(jù)，通過植物冠層的傳輸模型推斷LAI。  

冠層分析儀通過處理圖像數(shù)據(jù)文件，如葉面積指數(shù)、光照間隙、間隙分布等，獲得冠層結(jié)構(gòu)。  通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，可以計(jì)算出冠層截獲的PAR和冠層以下的輻射水平。  因此，與直接測(cè)量法相比，利用冠層分析儀測(cè)量冠層數(shù)據(jù)可以避免直接測(cè)量法帶來的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn)。而且使用儀器進(jìn)行測(cè)量操作具有方便、快捷、不受時(shí)間限制、獲取數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研。目前，冠層分析儀廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)的栽培、育種和植物群體比較與發(fā)展的研究和教學(xué)中，并在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮了作用。