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天平 （日本）：日本圣武天皇的年號。
有狹義和廣義之分。
狹義的天平專指雙盤等臂機械天平，是利用等臂杠桿平衡原理，將被測物與相應(yīng)砝碼比較衡量，從而確定被測物質(zhì)量的一種衡器。
廣義的天平則包括雙盤等臂機械天平、單盤不等臂機械天平和電子天平3類。
分析天平是用于化學(xué)分析和物質(zhì)衡量的高準確度天平。在大多數(shù)情況下，這類天平的zui小分度值都小于zui大稱量的 10-5。
分析天平可按衡量范圍和zui小分度值分為常量天平（稱量和zui小分度值分別為100～200g和0.01～1mg）、半微量天平 （30～100g和1～10µg）、微
量天平（3～30g和0.1~1µg）和超微量天平 （3～5g和0.1µg以下）?！?br />
雙盤等臂機械天平 一般按結(jié)構(gòu)分為普通標(biāo)牌天平、微分標(biāo)牌天平和架盤天平 3種。也可按用途分為檢定天平、分析天平、精密天平和普通天平4種。
檢定天平是*、商檢部門或其他有關(guān)部門或工廠專門用來檢查或校準砝碼的天平。
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