巴克霍爾茲壓痕試驗(yàn)儀注意事項(xiàng)：
1、測(cè)量使用后應(yīng)將儀器擦干凈放回包裝盒內(nèi)。
2、儀器應(yīng)放在干燥處。
3、螺口聚光燈泡2.2V，0.2A為易損件。
4、每次使用后應(yīng)將手電筒中的電池（自備）拆下。

巴克霍爾茲壓痕試驗(yàn)儀用途：
QHY型（以下簡(jiǎn)稱壓痕儀）適用于色漆、清漆的單層涂膜或多層涂膜的壓痕試驗(yàn)。此壓痕儀僅用于塑性變形的表面測(cè)量抗壓力。當(dāng)使用壓痕儀在規(guī)定條件下施壓涂膜時(shí)，即可形成壓痕長(zhǎng)度。以壓痕長(zhǎng)度倒數(shù)的函數(shù)表示抗壓痕性試驗(yàn)結(jié)果。當(dāng)要求涂膜的性能（抗壓痕性）提高時(shí)，抗壓痕性值就增大。

巴克霍爾茲壓痕試驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)：
1、 壓痕儀整個(gè)裝置重1000±5g；
2、 壓痕儀上的有效負(fù)荷重500±5g；
3、 讀數(shù)顯微鏡：a、放大倍數(shù)20倍；b、附帶光源入射角大于60°；c、讀數(shù)精度0.1mm。

巴克霍爾茲壓痕試驗(yàn)儀結(jié)構(gòu)：
1、壓痕裝置
它是由矩形金屬塊、硬質(zhì)工具鋼制的具有尖銳刀刃金屬輪、以及兩個(gè)尖腳所組成。
2、測(cè)量裝置
它是由一個(gè)20倍讀數(shù)顯微鏡，并附有大于60°的照明，以產(chǎn)生在壓痕長(zhǎng)度上一個(gè)影像。

下表表明了壓痕長(zhǎng)度和抗壓痕性之間的關(guān)系，也列出了壓痕深度和涂層厚度。

巴克霍爾茲壓痕試驗(yàn)儀使用方法：
一、通常具備的要求
a、在一個(gè)硬的平整無(wú)扭曲、表面無(wú)可見(jiàn)隆起的底材上；
b、在測(cè)試負(fù)荷下，底材必須不變形；
c、在測(cè)試期間，漆膜一般表現(xiàn)塑性變形，而不是彈性變形；
d、漆膜必須在壓痕裝置的負(fù)荷下，膜厚仍保持至少10um的厚度；
e、漆膜必須均勻、光滑和清潔。
二、取樣按GB3186規(guī)定進(jìn)行。
三、試板按GB9275—88中第5條的要求制做。
四、試驗(yàn)步驟
（1）試驗(yàn)環(huán)境條件
除非另有規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)在溫度23±2°C；相對(duì)濕度（50±5）%的條件下進(jìn)行。
（2）壓痕長(zhǎng)度測(cè)定
a、將試板漆膜朝上，放在穩(wěn)固的試驗(yàn)臺(tái)平面上；
b、將壓痕器輕輕地放在試板適當(dāng)?shù)奈恢蒙?；放時(shí)應(yīng)首先使裝置的腳與試板接觸，然后小心地放下壓痕器。可先在試驗(yàn)壓痕的位置上做記號(hào)，以便壓后重新找到壓痕。放置30±1s后拾起裝置離開(kāi)試板時(shí)，應(yīng)先是壓痕器，后是裝置的腳。
c、除非另有規(guī)定，移去壓痕器后35±5s期間內(nèi)，用顯微鏡放在測(cè)定的位置上，測(cè)定壓痕產(chǎn)生的影像長(zhǎng)度以毫米表示，到0.1mm，記錄其結(jié)果。
d、在同一試板上的不同部位進(jìn)行5次試驗(yàn)，計(jì)算其算術(shù)平均值。
（3）抗壓痕性的計(jì)算
a、將平均值數(shù)字修約成近似表中某一欄的值，用該壓痕長(zhǎng)度舍入值查表來(lái)得到抗壓痕性。
b、通過(guò)下式計(jì)算抗壓痕性：100/L     式中：L—壓痕長(zhǎng)度mm

測(cè)厚儀應(yīng)用：
▲激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

▲X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

▲薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

▲涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

▲超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

測(cè)厚儀原理分類：
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
▲點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
▲面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：
▲激光測(cè)厚儀
▲超聲波測(cè)厚儀
▲涂層測(cè)厚儀
▲X射線測(cè)厚儀
▲白光干涉測(cè)厚儀
▲電解式測(cè)厚儀

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀用途：
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

參數(shù)：
▲測(cè)量范圍： O-200μm。
▲執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
▲測(cè)量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。