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透射電子顯微鏡的原理是利用電子束作為光源，通過電磁透鏡將電子束成像在熒光屏幕上，從而獲得樣品的形貌、結構和組成等信息。具體來說，透射電子顯微鏡的工作原理可以分為以下幾個步驟：
電子槍：透射電子顯微鏡使用熱陰極電子槍，通過加熱陰極材料發(fā)射出電子束。
加速和聚焦：電子束通過加速電壓的作用，獲得足夠的能量，并且在電磁透鏡的作用下被聚焦成很細的電子束。
樣品室：樣品被放置在樣品室內，經過電子束的轟擊后，透射電子通過樣品后帶有樣品的信息。
電磁透鏡成像：透射電子經過一系列的電磁透鏡后，經過放大和成像在熒光屏幕上。在此過程中，可以調整電磁透鏡的參數，如放大倍數、工作距離等，以獲得所需的觀察效果。
圖像觀察：最終得到的樣品圖像可以被觀察和記錄，通常采用照相或數字成像的方式。
透射電子顯微鏡具有高分辨率和高放大倍數，能夠觀察非常微小的樣品結構，分辨率可達0.1～0.2nm，放大倍數可達幾萬～幾十萬倍。與光學顯微鏡相比，透射電子顯微鏡突破了光學衍射極限，能夠觀察更細微的結構。
使用透射電子顯微鏡時需要注意樣品制備、操作條件和實驗安全等方面。樣品需要制備成非常薄的切片，通常為50～100nm厚，而且需要嚴格控制實驗條件，如電子束的加速電壓、束流大小和觀察的曝光時間等。此外，由于電子束對樣品的作用較強，可能會對樣品造成損傷或污染，因此需要特別注意實驗安全和樣品保護。
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