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EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩(wěn)定性好、分析快速、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?？?strong style="margin: 0px; padding: 0px;">測(cè)定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導(dǎo)體探測(cè)器，通過(guò)智能激發(fā)和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)合。
| Item | 內(nèi)容描述 | |
| 儀器型號(hào) | EDX1800B | |
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
| 分析元素范圍 | Na(11)-U(92)任意元素 | |
| 檢出下限 | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 樣品形狀 | 任意大小，任何不規(guī)則形狀 | |
| 樣品類(lèi)型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
| X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
| 管電壓 | 5─50KV | |
| 管電流 | 1─1000ｕA | |
| 樣品照射直徑 | 2、5、8mm | |
| 探測(cè)器 | 美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng) | |
| 高壓發(fā)生器 | 美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器 | |
| 前置放大器 | 美國(guó)進(jìn)口前置放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 | |
| 主放大器 | 美國(guó)進(jìn)口主放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 | |
| AD轉(zhuǎn)換模塊 | 美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 | |
| ADC | 2048道 | |
| 濾光片 | 6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換 | |
| 樣品觀察 | 130萬(wàn)彩色CCD攝像機(jī) | |
| 分析軟件 | 軟件產(chǎn)品 BX-V26版本，升級(jí) | |
| 分析方法 | 理論alpha系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法 | |
| 操作系統(tǒng)軟件 | WINDOWS XP（正版） | |
| 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) | 主機(jī) | PC商務(wù)機(jī)型 |
| CPU | P4 3.0 | |
| 內(nèi)存 | 512MB | |
| 光驅(qū) | 8xDVD | |
| 硬盤(pán) | 80G | |
| 顯示器 | 17寸液晶顯示器 | |
| 工作環(huán)境 | 溫度10－35С，濕度30－70％RH | |
| 重量 | 60Kg（主機(jī)部分） | |
| 外形尺寸 | 550（W）×450(D)×450(H)mm | |
| 外部供電電源要求 | AC220±10%、50/60Hz | |
| 測(cè)定條件 | 大氣環(huán)境 | |
| 測(cè)試樣品時(shí)間 | 100－300秒可調(diào) | |
| 環(huán)境溫度 | 10℃-28℃ | |
| 環(huán)境濕度 | ≤70 ％RH(25℃室溫) | |
應(yīng)用領(lǐng)域
EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B應(yīng)用于RoHS檢測(cè)分析。
| 工作原理 |
采用的是X射線熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
| 儀器結(jié)構(gòu) |
<
融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測(cè)試數(shù)據(jù)的性能得到。
經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)定，確定影響系數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測(cè)樣品類(lèi)型相近，校正模型簡(jiǎn)單。
基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測(cè)物質(zhì)，通過(guò)對(duì)多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對(duì)應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測(cè)。
| 軟件功能 |
| 1 | 元素含量分析范圍為2 PPm到99.99% |
| 2 | 采用BG內(nèi)標(biāo)校正，提高非定性式樣測(cè)量精度 |
| 3 | 用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法 |
| 4 | 全自動(dòng)定量分析報(bào)告 簡(jiǎn)捷 |
| 5 | 自適應(yīng)初試化校正 |
| 6 | 光譜的自動(dòng)獲取和顯示。 |
| 7 | 具有自動(dòng)檢測(cè)儀器工作狀態(tài)的功能。 |
| 8 | 自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析。提供擴(kuò)展接口，進(jìn)一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。 |
進(jìn)口硬件
1
美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
2
美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器
3
美國(guó)進(jìn)口前置放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
4
美國(guó)進(jìn)口主放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
5
美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
| 進(jìn)口硬件 |
| 1 | 美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng) |
| 2 | 美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器 |
| 3 | 美國(guó)進(jìn)口前置放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 |
| 4 | 美國(guó)進(jìn)口主放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 |
| 5 | 美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好 |
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