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三豐表面測(cè)試儀178-582-11DC SJ-412表面粗糙度測(cè)量?jī)x常見(jiàn)故障及維修內(nèi)容
三豐表面測(cè)試儀178-582-11DC SJ-412表面粗糙度測(cè)量?jī)x常見(jiàn)故障及維修內(nèi)容：
三豐粗糙度儀是一種用于測(cè)量表面粗糙度的儀器，應(yīng)用于機(jī)械加工、制造等領(lǐng)域。然而，在使用過(guò)程中，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)顯示超出范圍的問(wèn)題，導(dǎo)致無(wú)法正常工作。
可能原因
1.探頭過(guò)臟或損壞：使用不當(dāng)或存放不當(dāng)可能會(huì)損壞探頭，需要更換。
2.電池電量不足：使用時(shí)間較長(zhǎng)或電池老化都可能導(dǎo)致電量不足，需要更換電池。
3.測(cè)量表面過(guò)于粗糙或過(guò)于平滑：三豐粗糙度儀有一定的測(cè)量范圍，如果超出其能力范圍，可能會(huì)顯示超出范圍。
問(wèn)題解決方法
1.更換探頭：如果探頭受損或過(guò)臟，應(yīng)該更換為新的探頭，以保證測(cè)量結(jié)果。
2.更換電池：如果電池電量不足，應(yīng)該更換為新的電池，以保證正常的使用時(shí)間。
3.調(diào)整測(cè)量范圍：如果測(cè)量表面的粗糙度或平滑度超出三豐粗糙度儀的能力范圍，可以調(diào)整測(cè)量范圍，或使用其他適用儀器進(jìn)行測(cè)量。
| 特征/錯(cuò)誤信息 | 可能存在的原因 | 處理方法 |
| 電池不能充電 | ●SJ-400用交流適配器連接電流時(shí)忘了關(guān)掉。●電池開(kāi)關(guān)被關(guān)掉。●內(nèi)置電池出現(xiàn)損壞了（變質(zhì)）。●內(nèi)置電池過(guò)度放電。 | ●打開(kāi)SJ-400，檢果電池圖標(biāo)以確保顯示圖標(biāo)指明“Be charged在充電”●打開(kāi)電池開(kāi)關(guān)●用新的電池代替舊的。●充電。 |
| 不能運(yùn)行自動(dòng)睡眠 | ●RS-232C交流還在運(yùn)行。●執(zhí)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程。●交流適配器還在連接。●自動(dòng)睡眠功能設(shè)定為OFF。 | 沒(méi)問(wèn)題。在RS-232C交流和統(tǒng)計(jì)過(guò)程期間自動(dòng)睡眠是無(wú)效的。按“POWER”鍵關(guān)掉電源就可以了。 |
| 觸摸屏顯示不清晰 | 對(duì)比度調(diào)整不適當(dāng)。 | 打開(kāi)顯示器裝置后面的對(duì)比度控制按鈕，適當(dāng)調(diào)整對(duì)比度。 |
| 按鍵或觸摸屏不能使用 | ●RS-232模式還在運(yùn)行●鍵的屏蔽產(chǎn)生作用。 | ●關(guān)掉RS-232C開(kāi)關(guān)。●關(guān)掉鍵屏蔽開(kāi)關(guān)。 |
| 存儲(chǔ)器錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：在內(nèi)部存儲(chǔ)器中開(kāi)機(jī)自檢錯(cuò)誤。 | 聯(lián)系客服。 |
| 存儲(chǔ)器錯(cuò)誤2 | 錯(cuò)誤位置：內(nèi)部存儲(chǔ)器中內(nèi)部存儲(chǔ)數(shù)據(jù)領(lǐng)域錯(cuò)誤 | 聯(lián)系客服。 |
| 系統(tǒng)錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：在輸入信號(hào)線路中自檢錯(cuò)誤。 | 聯(lián)系客服。 |
| SPC錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：帶SPC裝置輸出SPC數(shù)據(jù)交流錯(cuò)誤 | 適當(dāng)?shù)闹匦逻B接SPC連接線。打開(kāi)電源進(jìn)入數(shù)據(jù)處理器。 |
| 打印錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：打印機(jī)沒(méi)有紙，不能接收打印輸出要求 | 增加紙張，再按一次PRINT |
| 打印錯(cuò)誤2 | 錯(cuò)誤位置：打印機(jī)的機(jī)頭出現(xiàn)錯(cuò)誤 | 增加紙張，轉(zhuǎn)動(dòng)拉桿。 |
| 打印錯(cuò)誤3 | 錯(cuò)誤位置：自動(dòng)打印機(jī) | 如果電池剩余電量不到40—20%，充電。關(guān)閉電源，等幾秒。如果電池剩余電量超過(guò)60%--40%，打開(kāi)電源。再一次打印。如果問(wèn)題持續(xù)，聯(lián)系客服 |
| 存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：當(dāng)卡被寫(xiě)保護(hù)時(shí)，執(zhí)行存儲(chǔ)卡的寫(xiě)，格式或刪除要求 | 從插槽中重新移走存儲(chǔ)卡，取消寫(xiě)保護(hù)， |
| 存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤2 | 錯(cuò)誤位置：存儲(chǔ)卡保存的數(shù)據(jù)超出存儲(chǔ)容量。 | 插入一個(gè)新的存儲(chǔ)卡并格式化。實(shí)行新的保存操作 |
| 存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤3 | 錯(cuò)誤位置：當(dāng)讀取存儲(chǔ)卡時(shí)，發(fā)生轉(zhuǎn)存錯(cuò)誤。 | 確保存儲(chǔ)卡牢固地插在插槽上，如果沒(méi)有，重新插好。 |
| 存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤4 | 錯(cuò)誤位置：存儲(chǔ)卡沒(méi)有被格式化，如果需要權(quán)限讀、取，可能出現(xiàn)錯(cuò)誤 | 格式化存儲(chǔ)卡。 |
| 存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤5 | 錯(cuò)誤位置：在存取時(shí)，插槽沒(méi)有卡。 | 在插槽中插入一個(gè)卡，如果是新的，格式化它。 |
| LCD顯示器什么都沒(méi)有 | ●對(duì)比度沒(méi)有調(diào)整好。●電源保持關(guān)閉狀態(tài)。 | 當(dāng)從前面查看時(shí)，反方向旋轉(zhuǎn)對(duì)比度調(diào)整按鈕，打開(kāi)電源。其次，調(diào)整LCD對(duì)比度。 |
| 驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置在具體的時(shí)間段內(nèi)，初始的范圍不能檢測(cè)或執(zhí)行 | 正確的連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置和顯示器裝置。如果問(wèn)題持續(xù)存在，聯(lián)系客服 |
| 驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤3 | 錯(cuò)誤位置：沒(méi)有正確連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置 | 正確的連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置和顯示器裝置。如果問(wèn)題持續(xù)存在，聯(lián)系客服 |
| 限制探測(cè) | 錯(cuò)誤位置：驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置從在驅(qū)動(dòng)范圍內(nèi)測(cè)量進(jìn)行一半，探測(cè)器裝置滑行全部要求測(cè)量長(zhǎng)度前，探測(cè)范圍末端已經(jīng)探測(cè)到。 | 在第3頁(yè)面按“Move the measurement start position”圖標(biāo)或“Return it to the origin”圖標(biāo)，進(jìn)入測(cè)量開(kāi)始位置（驅(qū)動(dòng)范圍的開(kāi)始）以便能達(dá)到測(cè)量長(zhǎng)度。 |
| 探測(cè)器錯(cuò)誤1 | 錯(cuò)誤位置：探測(cè)器開(kāi)始測(cè)量前，就工件而言，探測(cè)器不在探測(cè)范圍內(nèi)。 | 在工件上設(shè)定探測(cè)器，探測(cè)器正確地依附在探測(cè)器裝置。 |
| 探測(cè)器錯(cuò)誤2 | 錯(cuò)誤位置：探測(cè)器在測(cè)量時(shí)，就工件而言，探測(cè)器超過(guò)探測(cè)范圍。 | 在工件上設(shè)定探測(cè)器，探測(cè)器正確地依附在探測(cè)器裝置。 |
| 探測(cè)器錯(cuò)誤3 | 錯(cuò)誤位置：探測(cè)器探測(cè)器不當(dāng)?shù)匕惭b在在探測(cè)器裝置上。 | 探測(cè)器正確地依附在探測(cè)器裝置。 |
| 超出范圍錯(cuò)誤顯示“000” | 錯(cuò)誤位置：測(cè)量范圍已探測(cè)數(shù)值超出當(dāng)前測(cè)量范圍。 | 使用一個(gè)大的測(cè)量范圍。 |
| 零位轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤 | 錯(cuò)誤位置：探針通過(guò)提供的零位轉(zhuǎn)換數(shù)值，探針位置不在的范圍。 | 調(diào)整探針以使它的位置能在的范圍內(nèi)。 |
| DAT錯(cuò)誤數(shù)據(jù)調(diào)整平臺(tái)錯(cuò)誤 | 錯(cuò)誤位置：傾斜調(diào)整在DAT測(cè)量期間，不能進(jìn)行運(yùn)算。 | 在探測(cè)器和工件之間的傾斜角度太大。探測(cè)器的傾斜要進(jìn)行調(diào)整。 |
| Ra…………um | 錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置●發(fā)生參數(shù)運(yùn)算錯(cuò)誤。●發(fā)生R面補(bǔ)償運(yùn)算錯(cuò)誤。 | ●修改測(cè)量條件后再測(cè)量一次。●如果R面補(bǔ)償已經(jīng)設(shè)定為ON，在啟動(dòng)R面補(bǔ)償后再測(cè)量一次。 |
| ☆25.65um | 錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置在測(cè)量期間，檢測(cè)到超出范圍。在數(shù)據(jù)前面將粘上一顆“☆“ | 使用一個(gè)大的測(cè)量范圍。 |
| Rz#5.68um | 錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置計(jì)算Rz峰谷或峰底的數(shù)據(jù)小于的數(shù)據(jù)。“#“顯示在運(yùn)算結(jié)果前。 | 聯(lián)系客服 |
| Ra****m | 錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置如果沒(méi)有獲得運(yùn)算結(jié)果。 | 聯(lián)系客服 |
| Rz L-P | 錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置沒(méi)有足夠的峰谷或峰底數(shù)據(jù)運(yùn)算Rz或Sm。在運(yùn)算結(jié)果前將顯示L-P。 | 聯(lián)系客服 |
| 校準(zhǔn)錯(cuò)誤 | 錯(cuò)誤位置：校準(zhǔn)校準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果超出可能范圍。 | 針對(duì)觸摸屏上顯示的數(shù)據(jù)，檢查參考標(biāo)準(zhǔn)塊粗糙度數(shù)值。確保探測(cè)器在參考標(biāo)準(zhǔn)塊上設(shè)定。 |
| 條件錯(cuò)誤1 | 在評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)（測(cè)量條件1/3和2/3）和測(cè)量數(shù)據(jù)之間關(guān)系不相稱(chēng) | 檢查評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。 |
| 條件錯(cuò)誤2 | 在評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)（測(cè)量條件1/3和2/3）和測(cè)量數(shù)據(jù)之間關(guān)系不相稱(chēng) | 檢查測(cè)量條件。 |
| 條件錯(cuò)誤3 | 不能計(jì)算R面補(bǔ)償 | 測(cè)量數(shù)據(jù)不能實(shí)行R面補(bǔ)償。關(guān)掉R面補(bǔ)償。 |
| 不能設(shè)定Ry | 表面粗糙標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)設(shè)定為JIS01，ISO97，ANSI 或VDA。 | 標(biāo)準(zhǔn)（JIS：2001，ISO：1997）修訂時(shí)，參數(shù)符號(hào)的含義也修改了。舊的標(biāo)準(zhǔn)版本的Ry改為Rz，避免使用Ry。因此，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（JIS：2001，ISO：1997），儀器不能設(shè)定Ry或Py參數(shù)。如果有需要Ry，那么把標(biāo)準(zhǔn)改回“JIS‘82”或“JIS‘94”任一版本才開(kāi)始實(shí)行測(cè)量。修改標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)參考“5.1 改變粗糙度標(biāo)準(zhǔn)。”關(guān)于參數(shù)設(shè)定的資料，請(qǐng)參考“5.6 定義顯示參數(shù)“ |
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