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XRF光譜分析儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。可以執(zhí)行快速且準確的完整無損分析，并可用于測試多種元素。可通過該技術快速獲知樣品中存在的具體元素，并利用校準得知元素的具體占比。
XRF光譜分析儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。激發(fā)源產生入射X射線(一次X射線)，這些射線照射到被測樣品上，與樣品中的原子發(fā)生相互作用，使得樣品產生荷電粒子和X射線的散射輻射(二次X射線)。探測器對產生的X熒光(二次X射線)進行檢測，測量其能量和數(shù)量。儀器軟件將探測系統(tǒng)收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
該設備測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，可以在數(shù)秒到幾分鐘內完成樣品中全部待測元素的測定。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象，因此同一試樣可反復多次測量。
本公司提供的xSORT XRF光譜分析儀具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。
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