【Nature子刊】改進(jìn)與優(yōu)化基于NTA的EV單顆粒熒光標(biāo)記及檢測方法
美國塔夫斯大學(xué) (Tufts University) 的研究人員們報(bào)道了一種熒光免疫標(biāo)記單個(gè) EV 用于 NTA-FL 的優(yōu)化算法,使得基于NTA的單囊泡免疫標(biāo)記和檢測與粒度分布和濃度分析更為精準(zhǔn)。該算法可以有效地提高NTA檢測結(jié)果可信度,為更深入研究 EV 的功能和機(jī)制提供了強(qiáng)有力的工具。
1. 熒光檢測過程中,可能出現(xiàn)了大量的假信號(hào)。
2. NTA 系統(tǒng)的技術(shù)限制導(dǎo)致 LSM 無法檢測到非常小的 EV 或折射率低的其他顆粒。散射光模式下EV檢測不全,有部分EV數(shù)據(jù)沒有檢測到,使得LSM面積偏小,從而導(dǎo)致比值大于100%。
3. 研究人員還發(fā)現(xiàn),F(xiàn)M模式在50 nm以下的區(qū)域還有明顯的信號(hào)峰出現(xiàn),而對(duì)比LSM模式,其在50 nm以下信號(hào)基本衰減為0,這可能也是造成比值大于100%的原因之一。具體而言,這可能是游離的熒光分子沒有充分去除,以及體系中游離的蛋白質(zhì)被熒光分子標(biāo)記,造成小尺寸分區(qū)中的熒光信號(hào)增強(qiáng)。
為了解決這種情況,研究人員們提出了兩種評(píng)估方法:
第一種方法是傳統(tǒng)的計(jì)算方法,即計(jì)算樣本中大于 50 nm的顆粒數(shù)量,并比較 FM 和 LSM 中的顆粒數(shù)量,得出 FM 與 LSM 之間的比例。(圖2b,c)
第二種方法是優(yōu)化后的計(jì)算方法,計(jì)算兩種方法得到的粒度分布曲線之間的重疊區(qū)域,并將該區(qū)域與 LSM 中大于 50 納米的顆??倲?shù)量進(jìn)行比較,得出重疊區(qū)域比例。(圖2d)
在研究過程中,研究人員著重強(qiáng)調(diào)了他們對(duì)顆粒粒徑選取的取舍。為了更精確地分析 EV,研究人員將分析范圍縮小到 50-200 納米。之所以選擇這個(gè)范圍,是因?yàn)?/span>大多數(shù) EV 的尺寸都在這個(gè)范圍內(nèi)。此外,LSM對(duì)小于 50 納米的顆粒檢測能力有限,而大于 200 納米的顆粒則可能并非 EV。因此,將分析范圍縮小到 50-200 納米可以有效地排除其他類型的顆粒,提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
圖2 基于NTA的免疫標(biāo)記算法示意圖
表2 算法優(yōu)化后不同樣本的熒光面積 (FM) 與散射光面積 (LSM) 比值(SA)
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