高溫環(huán)境下檢測(cè)用表面壓力分布測(cè)試薄膜的特點(diǎn)

來(lái)源：秋山科技（東莞）有限公司 2024年10月11日 13:52

高溫環(huán)境下檢測(cè)用表面壓力分布測(cè)試薄膜的特點(diǎn)

高溫環(huán)境下的壓力分布和壓力/表面壓力測(cè)量薄膜 Prescale for high heat

高溫標(biāo)尺是一種壓力測(cè)量薄膜，標(biāo)尺。
與普通的預(yù)刻度相比，由于熱而導(dǎo)致的顯色和基底變形得到抑制。這使得在加熱條件下測(cè)量壓力成為可能。

*這是一張圖片。

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