掃描電鏡是用來測樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像
掃描電鏡主要應(yīng)用于對樣品微區(qū)形貌,結(jié)構(gòu)與組成進(jìn)行觀察與分析。 它以分辨率高,景深好和操作簡單而被廣泛應(yīng)用于材料學(xué),物理學(xué),化學(xué),生物學(xué),考古學(xué),地礦學(xué)和微電子工業(yè)。
臺式掃描電子顯微鏡(Desktop Scanning Electron Microscope,簡稱DSEM)是一種體積小巧、操作簡便的電子顯微鏡,主要用于各種樣品的微細(xì)結(jié)構(gòu)和特征的形貌觀察及微區(qū)分析。 它結(jié)合了落地式掃描電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡的優(yōu)點,具有高放大倍數(shù)和大景深,同時體積小、操作簡便。
臺式掃描電鏡的主要功能包括:
微觀形貌觀測:通過高能電子束激發(fā)樣品表面的物理信號,如二次電子、背散射電子等,檢測這些信號以獲取樣品表面的形貌圖像,分辨率可達(dá)納米級別。
元素分析:部分臺式掃描電鏡配備能譜儀等附件,可以對樣品表面的元素進(jìn)行定性和定量分析,了解材料的化學(xué)成分和組成。
臺式掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,包括:
材料科學(xué)與工程:用于金屬、陶瓷、復(fù)合材料、納米材料等的表面形貌和結(jié)構(gòu)分析,評估材料性能和可靠性。
生物學(xué)和醫(yī)學(xué)研究:觀察細(xì)胞、組織、微生物等生物樣本的形態(tài)和結(jié)構(gòu),對于疾病診斷、藥物作用機(jī)理研究具有重要意義。
納米技術(shù):提供納米級別的分辨率,研究納米材料和納米器件的結(jié)構(gòu)和性能。
半導(dǎo)體和微電子:用于芯片和微電子元件的質(zhì)量檢測,確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能。
地質(zhì)學(xué)和環(huán)境科學(xué):分析巖石、礦物、土壤以及環(huán)境污染物的微觀結(jié)構(gòu),理解地球形成和環(huán)境保護(hù)。
工業(yè)質(zhì)量控制:在制造業(yè)中用于產(chǎn)品質(zhì)量檢測,提高生產(chǎn)質(zhì)量和效率。
教育和培訓(xùn):為學(xué)生提供直觀的學(xué)習(xí)材料,幫助理解微觀世界的工作原理。
綜上所述,臺式掃描電鏡以其高分辨率、多功能性和操作便捷性,成為多個領(lǐng)域研究中重要的工具。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。