尺寸檢測設(shè)備原理

來源：深圳市京都玉崎電子有限公司 2024年10月19日 10:33

尺寸檢測設(shè)備使用高性能CCD和CMOS相機進(jìn)行檢測。還有一些型號可以掃描激光以獲得高度信息并測量 3D XYZ 軸尺寸。

在生產(chǎn)線上，通過圖像處理進(jìn)行尺寸測量，被確定為不合格的缺陷產(chǎn)品將被剔除，只有合格的產(chǎn)品才會被自動發(fā)送到下一道工序。

尺寸檢測設(shè)備的工作過程是首先用光照射物體，并通過鏡頭用相機拍攝圖像。圖像由圖像處理設(shè)備識別并進(jìn)行測量。

1、相機選擇

根據(jù)測量目標(biāo)檢查所需的尺寸公差選擇像素數(shù)。

2. 照明

有正反射型、漫反射型、透射型等，根據(jù)被測物體的表面狀況進(jìn)行選擇。

3.圖像處理（邊緣檢測）

邊緣是圖像處理中明顯表現(xiàn)色彩漸暈的區(qū)域。產(chǎn)品高度、材料、顏色和紋理的差異顯示為邊緣。尺寸檢測設(shè)備可以測量邊緣區(qū)域的長度和角度，以及距邊緣的中心位置。由于它測量邊緣之間的距離，因此測量的準(zhǔn)確性取決于邊緣是否清晰可見。

相關(guān)產(chǎn)品

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