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手機環(huán)境與可靠性測試儀器,全網(wǎng)搜索,你估計會需要

來源:上海簡戶儀器設備有限公司【環(huán)境試驗箱|冷熱沖擊|高低溫試驗箱】   2024年10月28日 10:38  

手機環(huán)境與可靠性測試儀器,全網(wǎng)搜索,你估計會需要

上海簡戶儀器設備有限公司是一家高科技合資企業(yè),專業(yè)生產(chǎn)銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱沖擊機、振動試驗機、機械沖擊機、跌落試驗機的環(huán)境試驗儀器的公司,是一家具有研發(fā)生產(chǎn)銷售經(jīng)營各類可靠性環(huán)境試驗設備的公司。經(jīng)驗豐富,并得到許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持?,F(xiàn)在我們成為許多品牌的供應商。  


為了提升手機產(chǎn)品可靠性能力,各個企業(yè)投入了巨大的努力,從產(chǎn)品設計開發(fā)到生產(chǎn)各個環(huán)節(jié),都在致力于提高產(chǎn)品可靠性。


了解了產(chǎn)品的一般結(jié)構(gòu)之后,在開始結(jié)構(gòu)設計之前,需要清楚地知道產(chǎn)品要達到上市的要求需要通過哪些測試,達到什么樣的標準。


產(chǎn)品可靠性測試(PRT)的目的是在特定的可接受的環(huán)境下不斷的催化產(chǎn)品的壽命和疲勞度,可以在早期預測和評估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設計工程師必須通曉可靠性測試的所有標準,在設計階段就必須采取正確的設計和選擇合適的材料來避免后續(xù)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性問題。產(chǎn)品必須經(jīng)過國家的可靠性測試,而且越來越嚴格,要求也越來越高,這就對我們的設計提出了更高的要求。



首先了解一下可靠性影響因素


影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。


環(huán)境因素多種多樣:溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等,都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。有資料顯示,電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應引起:其中由溫度引起的占40%,由振動引起的占27%,由濕度引起的占19%,其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。環(huán)境試驗作為可靠性試驗的一種類型已經(jīng)發(fā)展成為一種預測產(chǎn)品使用環(huán)境是如何影響產(chǎn)品的性能和功能的方法。


在手機投入市場之前,環(huán)境試驗被用來評估環(huán)境影響手機的程度,當手機的功能受到了影響,環(huán)境試驗被用來查明原因,并采取措施保護手機免受環(huán)境影響以保護手機的可靠性,環(huán)境試驗也被用來分析手機在實際使用過程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進。


嚴格意義上講,只有通過了環(huán)境適應性試驗,滿足規(guī)定的條件,才能進行可靠性試驗,環(huán)境適應性試驗對于保證手機的可靠性是非常有效的。


手機環(huán)境與可靠性測試包括六個部分:加速壽命測試、氣候適應測試、結(jié)構(gòu)耐久測試、表面裝飾測試、特殊條件測試,及其他條件測試。 


 

  1.1. 加速壽命測試ALT (Accelerated Life Test)

  樣機標準數(shù)量:

  PR1:8臺 PR2:10臺 PR3:10臺 PIR:10臺

  試驗周期:10-12天

  測試目的: 通過連續(xù)的施加各種測試條件,加速產(chǎn)品的失效,提前暴露潛在問題。

  試驗流程: 見下圖,其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應不超過4小時;Temp/Humidity和2nd Drop測試的時間間隔應不超過4小時。每項測試完成都應進行表面,外觀,結(jié)構(gòu)和功能檢查。

  測試標準:參數(shù)指標正常,功能正常。
 

  1.1.1 室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的: 測試預檢查

  測試方法:使用8960/8922測試儀,對所有樣品進行參數(shù)指標預測試并保存測試結(jié)果。

  測試標準:參數(shù)指標正常,功能正常。
 

  1.1.2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)

  測試環(huán)境:低溫箱:-30° C ;高溫箱:+10° C

  測試目的:通過高低溫沖擊進行樣品應力篩選

  試驗方法:使用高低溫沖擊箱,手機帶電池,設置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后,在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后,再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán),共循環(huán)21次。實驗結(jié)束后將樣機從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出,恢復2小時后進行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機表面噴涂無異變,結(jié)構(gòu)無異常,功能正常,可正常打電話。

  1.1.3 跌落試驗(Drop Test)

  測試條件:1.5m高度,20mm厚大理石地板。(對于PDA手機,根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m)

  測試目的: 跌落沖擊試驗

  試驗方法:將手機處于開機狀態(tài)進行跌落。對于直握手機,進行6個面的自由跌落實驗,每個面的跌落次數(shù)為1次,每個面跌落之后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機,進行8個面的自由跌落實驗;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落,另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對外觀、結(jié)構(gòu)和功能進行檢查。

  試驗標準:手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求。

圖片


 

  1.1.4 振動試驗(Vibration Test)

  測試條件:振幅:0.38mm/振頻:10~30Hz;振幅:0.19mm/振頻:30~55Hz;

  測試目的: 測試樣機抗振性能

  試驗方法:將手機開機放入振動箱內(nèi)固定夾緊。啟動振動臺按X、Y、Z三個軸向分別振動1個小時,每個軸振完之后取出進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。三個軸向振動試驗結(jié)束后,對樣機進行參數(shù)測試。

  試驗標準:振動后手機內(nèi)存和設置沒有丟失現(xiàn)象,手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求,參數(shù)測試正常,晃動無異響。
 

  1.1.5 濕熱試驗(Humidity Test)

  測試環(huán)境:60° C,95%RH

  測試目的: 測試樣機耐高溫高濕性能

  試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上,持續(xù)60個小時之后取出,常溫恢復2小時,然后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
 

  1.1.6 靜電測試(ESD)

  測試條件:+/-4kV~+/-8kV。

  測試目的: 測試樣機抗靜電干擾性能

  試驗方法:

  將樣機設置為開機狀態(tài),檢查樣機內(nèi)存和功能。;使用功能正常)。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上,并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)(樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸;兩個樣機之間的距離也是至少2英寸)。

  打開靜電模擬器,調(diào)節(jié)放電方式,分別選擇+/-4kV(接觸放電),~+/-8kV(空氣放電),對手機部位連續(xù)放電10次,并對地放電。每做完一個部位的測試,檢查手機功能、信號和靈敏度,并觀察手機在測試過程中有無死機,通信鏈路中斷,LCD顯示異常,自動關(guān)機及其他異?,F(xiàn)象。

  樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進行各個放電方式、級別和極性的測試。

  試驗標準:在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。

  備注:靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進行定義。 

 

  1.2.氣候適應性測試 (Climatic Stress Test)

  樣品標準數(shù)量:一般氣候性測試 4 臺; 惡劣氣候性測試 2 臺。共8臺。

  測試周期:1 天。

  測試目的: 模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試

  測試流程:見下圖。

  一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
 

  A: 一般氣候性測試:

  1.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試(Parametric Test)

  測試環(huán)境:-10° C /+55° C

  測試目的:高溫/低溫應用性性能測試

  試驗方法:將手機電池充滿電,手機處于開機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上,調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55° C。持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進行電性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機電性能參數(shù)指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。

  測試環(huán)境:+45° C,95%RH

  測試目的:高溫高濕應用性性能測試

  試驗方法:將手機電池充滿電,手機處于開機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個小時之后,然后在此環(huán)境下進行電性能檢查,檢查項目見附表1。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機電性能指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。
 

  1.2.3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)

  測試環(huán)境:-40° C /+10° C

  測試目的:高溫/低溫應用性功能測試

  試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小時之后,取出,并放置2小時,恢復至常溫,然后進行結(jié)構(gòu),功能和電性能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機電性能指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。
 

  B:惡劣氣候性測試

  1.2.4.灰塵測試(Dust Test)

  測試環(huán)境:室溫

  測試目的:測試樣機結(jié)構(gòu)密閉性

  試驗方法:將手機關(guān)機放入灰塵實驗箱內(nèi)?;覊m大小300目,持續(xù)3個小時之后,將手機從實驗箱中取出,用棉布和離子風槍清潔后進行檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  試驗標準:手機各項功能正常,所有活動元器件運轉(zhuǎn)自如,顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。
 

  1.2.5.鹽霧測試(Salt fog Test)

  測試環(huán)境:35° C

  測試目的:測試樣機抗鹽霧腐蝕能力

  試驗方法:

  溶液含量:5%的氯化鈉溶液。

  將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內(nèi),合上翻蓋,樣機用繩子懸掛起來,以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。

  樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。實驗過程中樣機不得被中途取出,如果急需取出測試,要嚴格記錄測試時間,該實驗需向后延遲相同時間。

  取出樣機后,用棉布和離子風槍清潔,放置48小時進行常溫干燥后,對其進行外觀、機械和電性能檢查。

  試驗標準:手機各項功能正常,外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?,F(xiàn)象。
 

  1.3.結(jié)構(gòu)耐久測試 (Mechanical Endurance Test)

  樣品標準數(shù)量:11 臺。

  測試周期:1 天。

  測試流程:

  測試標準:
 

  1.3.1.按鍵測試(Keypad Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:按鍵壽命測試

  測試數(shù)量:2臺手機。

  測試方法:將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進行確定并參考工程師的建議,應盡量不重復,盡可能多。

  試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。
 

  1.3.2.側(cè)鍵測試(Side Key Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:側(cè)鍵壽命測試

  測試數(shù)量:1臺手機

  測試方法:將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,對側(cè)鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。

  試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。
 

  1.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:翻蓋壽命測試

  測試數(shù)量:4臺手機。

  測試方法:將手機設置成開機狀態(tài),固定在測試夾具上,進行5萬次開合翻蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進行手機翻蓋彈性及功能一次。

  試驗標準:5萬次后,手機外觀,結(jié)構(gòu),及功能正常。
 

  1.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:滑蓋壽命測試

  測試數(shù)量:4臺手機。

  測試方法:將手機設置成開機狀態(tài),固定在測試夾具上,進行5萬次滑蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進行手機滑蓋手感及功能一次。

  試驗標準:5萬次后,手機外觀,結(jié)構(gòu),及功能正常,滑蓋不能有松動(建議:垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象)
 

  1.3.5. 重復跌落測試(Micro-Drop Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);1cm高度 ,20mmPVC板

  測試目的:樣機跌落疲勞測試

  測試數(shù)量:2臺。

  測試方法:手機處于開機狀態(tài),做手機正面及背面的重復跌落實驗,每個面的跌落次數(shù)為20,000次。進行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。

  測試標準:手機各項功能正常,外殼無變形、破裂、掉漆,顯示屏無破碎,晃動無異響。
 

  1.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:充電器插拔]壽命測試

  測試數(shù)量:2臺手機。

  試驗方法:將充電器接上電源,連接手機充電接口,等待手機至充電界面顯示正常后,拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進行到2000次、2500次和3000次時進行中間/結(jié)束檢查一次。

  檢驗標準:I/O接口無損壞,焊盤無脫落,充電功能正常。無異常手感。
 

  1.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:手機手寫筆插拔壽命測試

  測試數(shù)量:2臺手機。

  試驗方法:將手機處于開機狀態(tài),筆插在手機筆插孔內(nèi),然后拔出,反復20,000次。進行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時檢查手機筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。

  檢驗標準:手機筆輸入功能正常,插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。
 

  1.3.8點擊試驗 (Point Activation Life Test)

  試驗條件:觸摸屏測試儀(接觸墊徑為3.15mm;硬度為40deg的硅樹脂橡膠)

  測試目的:觸摸屏點擊壽命測試

  樣品數(shù)量:1臺

  試驗方法:將手機設置為開機狀態(tài),點擊LCD的中心位置250,000次,點擊力度為250g;點擊速度:2次/秒;

  檢驗標準:不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象;表面不應有損傷
 

  1.3.9劃線試驗 (Lineation Life Test)

  試驗條件:觸摸屏測試儀,直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆

  測試目的:觸摸屏劃線疲勞測試

  樣品數(shù)量:1臺

  試驗方法:將手機設置為關(guān)機狀態(tài),在同一位置劃線至少100,000次,力度為250g;

  滑行速度:60mm/秒

  檢驗標準:不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象;表面不應有損傷
 

  1.3.10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:電池/電池蓋拆裝壽命測試

  測試數(shù)量:2臺。

  試驗方法:將電池/電池蓋反復拆裝2000次。進行到1500次、1800次和2000次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。

  檢驗標準:手機及電池卡扣功能正常無變形,電池觸片、電池連接器應無下陷、變形及磨損的現(xiàn)象,外觀無異常。
 

  1.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:SIM卡拆裝壽命測試

  測試數(shù)量:2臺手機。

  試驗方法:插上SIM卡,然后取下SIM卡,再重新裝上,反復1000次,每插拔100次檢查開機是否正常,讀卡信息正常。

  檢驗標準:SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常,手機讀卡功能使用正常。
 

  1.3.12. 耳機插拔測試(Headset Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:耳機插拔壽命測試

  測試數(shù)量:2臺手機。

  試驗方法:將手機處于開機狀態(tài),耳機插在耳機插孔內(nèi),然后拔出,反復3000次。進行到2000、2500次和3000次時各檢查一次。

  檢驗標準:實驗后檢查耳機插座無焊接故障,耳機插頭無損傷,使用耳機通話接收與送話無雜音(通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭),耳機插入手機耳機插孔時不會松動(可以承受得住手機本身的重量)。
 

  1.3.13.導線連接強度試驗(Cable Pulling Endurance Test--Draft)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:導線連接強度測試

  實驗方法:選取靠近耳塞的一段導線,將其兩端固定在實驗機上,用10N±1N的力度持續(xù)拉伸6秒,循環(huán)100次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))

  檢驗標準:導線功能正常。被覆外皮不破裂,變形。
 

  1.3.14.導線折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test--Draft)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:導線折彎疲勞測試

  實驗方法:分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線,將導線的兩端固定在實驗機上,做0mm~25mm做折彎實驗3000次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))

  檢驗標準:導線功能正常被覆外皮不破裂,變形。
 

  1.3.15.導線擺動疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test--Draft)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:導線擺動疲勞測試

  實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上,用1N的力, 以180°的角度反復擺動耳機末端3000次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))

  檢驗標準:導線功能正常被覆外皮不破裂。
 

  1.4 表面裝飾測試 (Decorative Surface Test)

  測試周期:4 天。

  樣品標準數(shù)量:每種顏色6 套外殼。

  測試流程:
 

  1.4.1.磨擦測試(Abrasion Test - RCA)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:印刷/噴涂抗摩擦測試

  試驗方法:將最終噴樣品涂固定在RCA試驗機上,用115g力隊同一點進行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles,側(cè)棱摩擦150 Cycles。特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設計工程師共同確定。

  檢驗標準:耐磨點涂層不能脫落,不可露出底材質(zhì)地(對于噴涂、電鍍、IMD);圖案或字體不能缺損、不清晰(對于絲印、按鍵)。
 

  1.4.2.附著力測試(Coating Adhesion Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:噴涂附著力測試

  試驗方法:選最終噴涂的手機外殼表面,使用百格刀刻出100個1平方毫米的方格,劃格的深度以露出底材為止,再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面,1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次,檢查方格面油漆是否有脫落。

  檢驗標準:方格面油漆脫落應小于3%,并且沒有滿格脫落。
 

  1.4.3.汗液測試(Perspiration Test)

  測試環(huán)境:60 oC,95%RH

  測試目的:表面抗汗液腐蝕能力

  試驗方法:把濾紙放于酸性(PH=2.6)溶液充分浸透,用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面,確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸,然后放在測試環(huán)境中,在24小時檢查一次,48小時后,將樣品從測試環(huán)境中取出,并且放置2小時后,檢查樣品表面噴漆。

  檢驗標準:噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。
 

  1.4.4.硬度測試(Hardness Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  測試目的:表面噴涂硬度測試

  試驗方法:用2H鉛筆,在45度角下,以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長的線條3~5條。

  檢驗標準:用橡皮擦去鉛筆痕跡后,在油漆表面應不留下劃痕。
 

  1.4.5. 鏡面摩擦測試(Lens Scratch Test)

  測試環(huán)境: 室溫(20~25° C);

  測試目的:鏡面抗劃傷測試

  試驗方法:用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上,用載重(load)為500g的力在樣品表面往復劃傷50次。

  檢驗標準:鏡面表面劃傷寬度應不大于100μm(依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板)
 

  1.4.6 紫外線照射測試(UV illuminant Test)

  測試環(huán)境:50° C

  測試目的:噴涂抗紫外線照射測試

  試驗方法:在溫度為50° C,紫外線為340W/mm2的光線下直射油漆表面48小時。試驗結(jié)束后將手機外殼取出,在常溫下冷卻2小時后檢查噴漆表面。

  檢驗標準:油漆表面應無褪色,變色,紋路,開裂,剝落等現(xiàn)象。
 

  1.5.1. 低溫跌落試驗(Low temperature Drop Test)

  測試環(huán)境:-10° C

  樣機數(shù)量: 3臺

  測試目的:樣機低溫跌落測試

  試驗方法:將手機進行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出,進行1.2米的6個面跌落,2個循環(huán),要求3分鐘內(nèi)完成跌落,方法同常溫跌落。

  檢驗標準:手機外觀,結(jié)構(gòu),功能和電性能參數(shù)符合要求。
 

  1.5.2. 扭曲測試(Twist Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  樣機數(shù)量: 2臺

  測試目的:抗扭曲測試

  試驗方法:將手機處于開機狀態(tài),固定在扭曲試驗機上,用2N m力矩反復扭曲手機1000次。對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  檢驗標準:手機沒有變形,外觀無異常,各項功能正常。
 

  1.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  樣機數(shù)量: 2臺

  測試目的:抗坐壓測試

  試驗方法:將手機處于開機狀態(tài),放置在坐壓試驗機上,用45Kg力反復擠壓手機1000次。 對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

  檢驗標準:手機沒有變形,外觀無異常,各項功能正常。
 

  1.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);100g鋼球。

  樣機數(shù)量: 2臺

  測試目的:鏡蓋強度測試

  試驗方法:鏡蓋表面:用100g鋼球,從20cm高處,以初速度為0的狀態(tài),垂直打擊鏡蓋表面。

  檢驗標準:手機鏡蓋無變形,無裂縫,無破損(允許有白點), LCD功能正常。
 

  1.6 其他條件測試

  樣品標準數(shù)量:5 臺。

  測試周期:1 天。

  測試流程:

  測試標準:
 

  1.6.1螺釘?shù)臏y試(Screw Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  樣機數(shù)量: 3臺

  測試目的:螺釘拆裝疲勞測試

  試驗方法:將手機平放在試驗臺上用允許的最大扭矩(由設計工程師和生產(chǎn)工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反復旋動螺釘10次.

  檢驗標準:試驗中和完成后,螺紋沒有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的松動,劃絲; 螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的松動,劃絲
 

  1.6.2掛繩孔強度的測試(Hand Strap Test)

  測試環(huán)境:室溫(20~25° C);

  樣機數(shù)量: 2臺

  測試目的:掛繩孔結(jié)構(gòu)強度測試

  試驗方法:將掛繩穿過掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內(nèi)轉(zhuǎn)動100圈,

  然后用拉力計以持續(xù)不斷的力拉手機的掛繩.

  檢驗標準:手機的掛繩能容易的穿過掛繩孔(不借助于特殊的工具); 轉(zhuǎn)動手機時,掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf (111N)


  可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設計、應用過程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗設備對其進行驗證,這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產(chǎn)試驗、量產(chǎn)抽檢三個部分。


  1、其中氣候環(huán)境包含:高溫、低溫、高低溫交變、高溫高濕、低溫低濕、快速溫度變化、溫度沖擊、高壓蒸煮(HAST)、溫升測試、鹽霧腐蝕(中性鹽霧、銅加速乙酸、交變鹽霧)、人工汗液、氣體腐蝕(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接熱,沾錫性,防塵等級測試(IP1X-6X),防水等級測試(IPX1-X8)、阻燃測試,UV老化(熒光紫外燈)、太陽輻射(氙燈老化、鹵素燈)等等;


  2、其中機械環(huán)境包含:振動(隨機振動,正弦振動)、機械沖擊、機械碰撞、跌落、斜面沖擊,溫濕度 振動三綜合、高加速壽命測試(HALT)、高加速應力篩選(HASS、HASA)、插拔力,保持力,插拔壽命,按鍵壽命測試、搖擺試驗、耐磨測試、附著力測試、百格測試等。

  • 關(guān)于我們

  • 上海簡戶儀器設備有限公司是一家高科技合資企業(yè),生產(chǎn)銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱沖擊機、振動試驗機、機械沖擊機、跌落試驗機的環(huán)境試驗儀器的公司,研發(fā)生產(chǎn)銷售經(jīng)營各類可靠性環(huán)境試驗設備。經(jīng)驗豐富,并得到許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持。自公司成立以來,多次服務于國內(nèi)外大學和研究所等檢測機構(gòu),如清華大學、蘇州大學、哈爾濱工業(yè)大學、北京工業(yè)大學、法國申美檢測、中科院物理所、中科院,SGS等**單位提供實施室方案和設備及其相關(guān)服務。努力開發(fā)半導體、光電、光通訊、航天太空、生物科技、食品、化工、制藥等行業(yè)產(chǎn)品所需的測試設備裝置。公司擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售後隊伍,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務,每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點。

  • 恒溫恒濕試驗箱在汽車行業(yè)中的應用為適應市場快速變化及客戶多樣化的要求,上海簡戶儀器設備有限公司研發(fā)了性能與可靠性**JianHuTest產(chǎn)品系列.從精密零件到電腦資訊系統(tǒng)及有線無線通訊產(chǎn)業(yè),均可提供高品質(zhì)的設備與完善的售后服務。


  • 恒溫恒濕試驗箱在汽車行業(yè)中的應用


  •  上海簡戶榮獲企業(yè),表明上海簡戶在技術(shù)、科技成果轉(zhuǎn)化、擁有自主知識產(chǎn)權(quán)等方面得到了國家的高度認可。簡戶一直秉承"服務以人為本"的宗旨,為廣大客戶提供精良的設備及優(yōu)質(zhì)的服務,提供的送貨上門、安裝調(diào)試、一年的設備保養(yǎng)、終身維修,技術(shù)指導服務。始終如一的以"努力、合作、飛躍"的精神自我完善、不斷發(fā)展、讓客戶與公司實現(xiàn)雙贏局面。
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  • 簡戶是集設計、銷售、研發(fā)、維修服務等為一體的綜合集團公司,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務,每一個環(huán)節(jié)之間,都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點,提供的環(huán)境設備。公司創(chuàng)始人從事儀器設備行業(yè)20余年,經(jīng)驗豐富、資歷雄厚,帶領(lǐng)簡戶公司全體同仁攜手共建輝煌明天。公司成立以來,積極投入電子電工,航空,航天,生物科技,各大院校,及科研單位等行業(yè)所需的產(chǎn)品測試設備裝置。
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  • 簡戶擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售后服務隊伍,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務,每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點,目前擁有博士學位2人,碩士5人,參與環(huán)境試驗箱國家標準起草和發(fā)行。企業(yè)制定標準,行業(yè)里通過ISO9001。是中國儀器儀表學會會員和理事單位。曾榮獲CCTV《中國儀器儀表20強品牌》殊榮,2010年入駐上海世博會民企館。簡戶自創(chuàng)辦以來,參與3項國家標準起草與制定,獲得40+件原創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)、軟著、集成電路),6次獲得上海科技型中小企業(yè)稱號,合作過3200+家合作客戶(其中世界500強高校600家)。
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  • 簡戶儀器今后必將牢記為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務的宗旨,不忘為行業(yè)貢獻前沿科學和技術(shù)的初心,再接再厲,砥礪前行!

  • 【簡戶儀器簡介:成立2005年,是一家研發(fā),生產(chǎn),銷售及售后齊全的綜合性設備生產(chǎn)單位,多次評為科技型中小企業(yè),,客戶遍布高分子,汽車,半導體,塑膠,五金,科研院校,第三方檢測等】

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