便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX”的原理及運用介紹

來源：秋山科技（東莞）有限公司 2024年11月04日 11:33

便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX”的原理及運用介紹

測量原理

200TX測量原理
X 射線熒光光譜法全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法

全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于，光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面，因此不會穿透樣品臺基板，可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線，因此可以進行超痕量分析。

解決方案分析
含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜

頭發(fā)分析
30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜

【特征】　●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度　●主機總重僅8kg　●可進行ppm至ppb級別的分析　●無需液氮或冷卻水　

[應用]　●用于測試井水和河流　●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水　●用于食品、制藥、法醫(yī)學領(lǐng)域的現(xiàn)場分析

*引進OURSTEX200TX時，需提前向勞動基準監(jiān)督署通報。

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