測量阻抗有幾種不同的技術(shù)和方法，應該根據(jù)測量的頻率范圍、要測量的阻抗參數(shù)以及想要顯示的測量結(jié)果來選擇一個具體的測試技術(shù)。 　　

自動平衡電橋技術(shù)在從毫歐姆到兆歐姆很寬的阻抗測量范圍內(nèi)有很高的測量精度，與之相適應的測量頻率范圍可以從幾Hz到110MHz。 　　

IV 和 RF-IV 技術(shù)在從毫歐姆到兆歐姆的阻抗測量范圍內(nèi)的測量精度同樣很好，與之相適應測量頻率范圍可以從40Hz到3GHz左右。 　　

傳輸 / 反射技術(shù)在非常寬的頻率范圍，從 5 Hz 到 110 GHz 以上，測量 50 歐姆或 75 歐姆附近的阻抗值時，具有非常高的測量精度。 　　

LCR測試儀和阻抗分析儀的主要區(qū)別之一是它們對測量結(jié)果的顯示方式。LCR 表用數(shù)字顯示測量結(jié)果，而阻抗分析儀既可以用數(shù)字也可以用圖形顯示測量結(jié)果。 　　

LCR表或阻抗分析儀所采用的測量技術(shù)和儀表的類型無關(guān)，根據(jù)測量的頻率范圍，它們可以采用RF-IV、IV 或自動平衡電橋技術(shù)。 　　

在某種程度上，在決定產(chǎn)品的最終設計性能，甚至決定制成品的生產(chǎn)時都會與產(chǎn)品所用器件的阻抗值有關(guān)，最終產(chǎn)品的性能和質(zhì)量會受到器件的測量精度以及對器件的測量是否夠全面的影響。 　　 　　

圖 0-1 各種測量方法和相應的測量精度范圍 　   

阻抗參數(shù)的確定和選擇　　

阻抗是表征電子器件特性的參數(shù)之一。阻抗 (Z) 的定義是器件在給定的頻率下對交流電流 (AC) 所起的阻礙作用。 　　

阻抗通常用復數(shù)量 ( 矢量 ) 的形式來表示，可以把它畫在極坐標上。坐標的第一和第二象限分別對應正的電感值和正的電容值 ; 第三和第四象限則代表負的電阻值。阻抗矢量由實部 ( 電阻 — R) 和虛部 ( 電抗 — X) 組成。 　　

圖 1-1 所示是阻抗矢量的值落在極坐標系統(tǒng)中第一象限的情況。 　

圖 1-1. 阻抗的矢量表示 　　

電容 (C) 和電感 (L) 的值可從電阻(R) 和電抗 (X) 值中推導出來。電抗的兩種形式分別是感抗 (X L) 和容抗(X C)。 　　

品質(zhì)因數(shù) (Q) 和損耗因數(shù) (D) 也可從電阻和電抗的值中推導出來，這兩個參數(shù)是表示電抗純度的。當 Q 值偏大或 D 值偏小時，電路的質(zhì)量更高。Q 的定義是器件所儲存的能量與其做消耗的能量的比值。D 是 Q 的倒數(shù)。D 還等于“tan δ”，其中 δ 是介質(zhì)損耗角 (δ 是相位角 θ 的余角 )。D 和 Q 均屬于無量綱的量。 　　

圖 1-2 顯示的是阻抗與可以從阻抗值中所推導出的參數(shù)的關(guān)系。 

圖 1-2. 電容器和電感器參數(shù)        

以上就是了解的LCR測試儀的基本知識。